Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635212)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Датчики и системы. Sensors & Systems  / №5 2015

КОНТРОЛЬ ФАЗОВОЙ АНИЗОТРОПИИ В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ЗЕРКАЛ (150,00 руб.)

0   0
Первый авторЛобанов Петр Юрьевич
АвторыМануйлович Иван, Сидорюк Олег
Страниц4
ID581619
АннотацияОписана система оптического контроля, обеспечивающая внесение на завершающих стадиях технологического процесса расчетных корректировок для компенсации суммарного влияния погрешностей толщин изготовления осажденных слоев на величину индуцируемой фазовой анизотропии. Рассмотрены также вопросы оптимизации измерительной системы и способы уменьшения ее погрешности
УДК686.78.555.012.2
Лобанов, П.Ю. КОНТРОЛЬ ФАЗОВОЙ АНИЗОТРОПИИ В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ЗЕРКАЛ / П.Ю. Лобанов, Иван Мануйлович, Олег Сидорюк // Датчики и системы. Sensors & Systems .— 2015 .— №5 .— С. 38-41 .— URL: https://rucont.ru/efd/581619 (дата обращения: 10.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 686.78.555.012.2 КОНТРОЛЬ ФАЗОВОЙ АНИЗОТРОПИИ В ПРОЦЕССЕ ПРОИЗВОДСТВА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ЗЕРКАЛ THE PHASE ANISOTROPY CONTROL OF INTERFERENCE MIRRORS DURING PRODUCTION PROCESS Лобанов Петр Юрьевич вед. инженер Мануйлович Иван Сергеевич канд. физ.-мат. наук, научн. сотрудник Сидорюк Олег Евгеньевич канд. физ.-мат. наук, нач. лаборатории E-mail: dipole@sumail.ru ОАО “Научно-исследовательский институт “Полюс” им. <...> М. Ф. Стельмаха”, Москва Аннотация: Описана система оптического контроля, обеспечивающая внесение на завершающих стадиях технологического процесса расчетных корректировок для компенсации суммарного влияния погрешностей толщин изготовления осажденных слоев на величину индуцируемой фазовой анизотропии. <...> Рассмотрены также вопросы оптимизации измерительной системы и способы уменьшения ее погрешности. <...> ВВЕДЕНИЕ Для контроля оптических характеристик интерференционных покрытий в процессе производства разработан ряд систем из высокочувствительных датчиков массы осаждаемых слоев, различных фотометров и широкополосных спектральных анализаторов [1—5]. <...> Однако при создании прецизионных тонкопленочных конструкций желательно производить мониторинг по ключевому параметру, значение которого необходимо оптимизировать. <...> В частности, для ряда задач (например, для зеркал кольцевых лазе36 Lobanov Petr Yu. <...> Keywords: interference mirror, the phase anisotropy, optical control, polarimetry. ров с круговой поляризацией [6]) важен такой параметр лазерных зеркал, как фазовая анизотропия, которая при нанесении многослойного покрытия более чувствительна к погрешностям в задании толщин отдельных слоев, чем, например, значения коэффициентов отражения или пропускания [7]. <...> Данная работа посвящена разработке системы оптического контроля интерференционных зеркал для измерения фазовой анизотропии отражающих покрытий на завершающих стадиях процесса их производства. <...> Целью такого контроля является внесение необходимых корректировок значений параметров последних осаждаемых слоев для компенсации <...>