УДК 621.3.049.779 СХЕМОТЕХНИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ПОВЫШЕНИЯ РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ ОТРАЖАТЕЛЕЙ ТОКА ОПЕРАЦИОННЫХ УСИЛИТЕЛЕЙ SCHEMATIC TECHNIQUES FOR RADIATION HARDNESS IMPROVEMENT OF CURRENT MIRRORS OF OPERATIONAL AMPLIFIERS Родин Александр Сергеевич аспирант E-mail: ASRodin@mephi.ru Бакеренков Александр Сергеевич канд. техн. наук, доцент E-mail: as_bakerenkov@list.ru Фелицын Владислав Александрович инженер E-mail:VAFelitsyn@mephi.ru Першенков Вячеслав Сергеевич д-р техн. наук, профессор, зав. кафедрой E-mail: VSPershenkov@mephi.ru Мирошниченко Алина Георгиевна инженер E-mail: AGMiroshnichenko@mephi.ru Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”, Москва Аннотация: Разработаны схемотехнические решения с целью повышения радиационной стойкости токовых зеркал, широко использующихся в различных типах аналоговых интегральных схем. <...> ВВЕДЕНИЕ Отражатели тока являются составной частью интегральных микросхем (ИМС) операционных усилителей (ОУ), которые в космической бортовой аппаратуре подвергаются воздействию ионизирующего излучения [1—3]. <...> Обычно радиационностимулированные отклонения параметров электрических характеристик ИМС называют радиационной деградацией (РД). <...> В ряде случаев РД кремниевых ИМС происходит в результате накопления положительного заряда в окисле SiO2 и увеличения поверхностных состояний на его границе с кремнием [4]. <...> Это приводит к изменению пороговых напряжений МДП-транзисторов и к снижению коэффициента усиления β биполярных транзисторов [3, 4]. <...> В результате возникают функциональные и параметрические отказы ИМС в условиях космического пространства. <...> РД ИМС может наблюдаться также и в услоRodin Alexander S. Postgraduate E-mail: ASRodin@mephi.ru Bakerenkov Alexander S. Ph. <...> (Tech.), Professor, Head of Departament E-mail: VSPershenkov@mephi.ru Miroshnichenko Alina G. Engineer E-mail: AGMiroshnichenko@mephi.ru National Research Nuclear University MEPhI, Moscow Abstract: The circuitry solutions were developed to improve total dose radiation hardness of conventional current mirrors, which are widely used in different types of analog integrated circuits. <...> Keywords: radiation hardness, current mirrors, circuit simulation. виях повышенного радиационного фона (например, в атомных реакторах). <...> Интегральные микросхемы ОУ <...>