Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635051)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки  / №2 2015

УСКОРЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ЦИФРОАНАЛОГОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ И СИСТЕМЫ ИХ МОНИТОРИНГА И УПРАВЛЕНИЯ (90,00 руб.)

0   0
Первый авторСолодимова
АвторыСветлов А.В., Ишков А.С., Лемаев Р.А., Цыпин Б.Ф.
Страниц11
ID552562
АннотацияАктуальность и цели. Широко использующиеся в измерительных и управляющих системах микросхемы цифроаналоговых преобразователей (ЦАП) являются перспективными изделиями. Однако широкое применение в технике указанных изделий требует поддержания их технических параметров на неизменно высоком уровне. Одним из способов обеспечения надежности микросхем является организация системы производственного контроля параметров ЦАП, которая является важной научно-технической задачей. Цель работы – разработка современного автоматизированного рабочего места инженераиспытателя, позволяющего выполнять ускоренные испытания микросхем. Материалы и методы. Измерение параметров ЦАП выполняется с использованием стандартных средств измерений, а также оригинальных методик оценки соответствия параметров ЦАП установленным в технической документации значениям. Результаты. Разработано автоматизированное рабочее место инженераиспытателя для проведения ускоренных испытаний ЦАП на надежность с применением прецизионной элементной базы и современных средств измерений для получения высоких метрологических характеристик. Выводы. Разработка автоматизированного рабочего места инженераиспытателя позволила значительно повысить качество проведения ускоренных испытаний ЦАП за счет оперативного получения данных и возможности мониторинга за ходом проведения испытаний.
УДК681.518.5
УСКОРЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ЦИФРОАНАЛОГОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ И СИСТЕМЫ ИХ МОНИТОРИНГА И УПРАВЛЕНИЯ / Г.А. Солодимова [и др.] // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки .— 2015 .— №2 .— С. 136-146 .— URL: https://rucont.ru/efd/552562 (дата обращения: 05.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Поволжский регион УДК 681.518.5 Г. А. Солодимова, А. В. Светлов, А. С. Ишков, Р. А. Лемаев, Б. Ф. Цыпин УСКОРЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ЦИФРОАНАЛОГОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ И СИСТЕМЫ ИХ МОНИТОРИНГА И УПРАВЛЕНИЯ Аннотация. <...> Широко использующиеся в измерительных и управляющих системах микросхемы цифроаналоговых преобразователей (ЦАП) являются перспективными изделиями. <...> Однако широкое применение в технике указанных изделий требует поддержания их технических параметров на неизменно высоком уровне. <...> Одним из способов обеспечения надежности микросхем является организация системы производственного контроля параметров ЦАП, которая является важной научно-технической задачей. <...> Цель работы – разработка современного автоматизированного рабочего места инженераиспытателя, позволяющего выполнять ускоренные испытания микросхем. <...> Измерение параметров ЦАП выполняется с использованием стандартных средств измерений, а также оригинальных методик оценки соответствия параметров ЦАП установленным в технической документации значениям. <...> Разработано автоматизированное рабочее место инженераиспытателя для проведения ускоренных испытаний ЦАП на надежность с применением прецизионной элементной базы и современных средств измерений для получения высоких метрологических характеристик. <...> Разработка автоматизированного рабочего места инженераиспытателя позволила значительно повысить качество проведения ускоренных испытаний ЦАП за счет оперативного получения данных и возможности мониторинга за ходом проведения испытаний. <...> Tsypin ACCELERATED TESTING OF DIGITAL-ANALOG CONVERTERS AND MONITORING AND CONTROL SYSTEM THEREOF Abstract. <...> Widely used in measuring and operating systems the DAC chips are promising products. <...> One of ways of ensuring reliability of chips is to organize a system of production control of the DAC parameters, which is an important scientific and technical task. <...> The work purpose is to develop a modern automated workplace of a test engineer allowing to carry out accelerated testing of chips. <...> Measurement of the DAC parameters is carried out using standard measuring instruments and the original techniques of conformity assessment of the DAC parameters to the <...>