Микроэлектроника Исследования гибкой электроники Итальянские ученые разрабатывают рекомендации для оптимизации геометрии и процесса изготовления гибкой электроники. <...> Исследователи основываются на данных проводимой конфокальной сканирующей микроскопии, благодаря которым получена информация о поведении изделия при механическом воздействии. <...> Маркус Фабич (Markus Fabich) Перевод: Николай Павлов решений электронные компоненты размещены на гибком деформируемом основании, на котором находятся и проводники, соединяющие их в единую электрическую схему. <...> Проектирование таких проводников — сложная задача, ведь они должны сохранить свою геометрию и остаться целыми при сложной деформации основания. <...> Для дальнейшего развития гибкой электроники требуется четкое понимание, какие напряжения возникают в структуре в целом и в каждом отдельном элементе при приложении деформационных воздействий. <...> В идеале подобное тестирование должно проводиться в конкретных местах испытываемой структуры и отображать возникающие механические напряжения с высокой точностью и разрешением, в зависимости от приложенных воздействий. <...> Это поможет оптимизировать оба компонента (основание и наносимый материал) и процесс изготовления, но восприятие данной информации будет сильно зависеть от метода ее отображения. <...> Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия (CLSM) обладает высокой скоростью, простотой применения и достаточностью получаемой информации. <...> В Политехническом институте Милана (Politecnico А di Milano, Милан, Италия) исследовательская группа доктора Дарио Гастальди воспользовалась для исследования и оптимизации гибкой электроники технологией CLSM. <...> Микрорастягиваемое устройство было размещено на конфокальном сканирующем микроскопе Olympus LEXT OLS4100 и растягивалось с шагом 5%, при этом были сделаны снимки каждого этапа (рис. <...> При работе с этой установкой группа профессора Гасталди ставила задачу охарактеризовать два основных <...>