Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634699)
Контекстум
.
Инженерный журнал: наука и инновации  / №6 2013

Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии (50,00 руб.)

0   0
Первый авторЗахаров
ИздательствоМ.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана
Страниц5
ID276461
АннотацияНовым методом исследования поверхности твердых тел является конфокальная микроскопия, которая позволяет резко увеличить точность измерений неровности поверхности в вертикальном направлении, при этом разрешение в горизонтальном направлении остается на уровне традиционных оптических микроскопов. Такое соотношение в разрешении в двух взаимно перпендикулярных направлениях позволяет получать новую, достаточно уникальную информацию, которая недоступна даже при использовании сканирующей электронной микроскопии с высоким разрешением. В статье представлены микрофотографии краев металлизации на подложках арсенида галлия и кремния. Показано, что вблизи края метод конфокальной микроскопии позволяет выявить изменения рельефа, связанные с упругими деформациями и металлической пленки, и подложки. Более того, используемый метод позволяет определить кристаллографическую ориентацию подложки.
УДК53.086
Захаров, П.С. Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии / П.С. Захаров // Инженерный журнал: наука и инновации .— 2013 .— №6 .— URL: https://rucont.ru/efd/276461 (дата обращения: 24.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 53.086 Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии © П.С. Захаров, В.С. Зайончковский, Е.Б. Баскаков КФ МГТУ им. <...> Н.Э. Баумана, г. Калуга, 248600, Россия Новым методом исследования поверхности твердых тел является конфокальная микроскопия, которая позволяет резко увеличить точность измерений неровности поверхности в вертикальном направлении, при этом разрешение в горизонтальном направлении остается на уровне традиционных оптических микроскопов. <...> Такое соотношение в разрешении в двух взаимно перпендикулярных направлениях позволяет получать новую, достаточно уникальную информацию, которая недоступна даже при использовании сканирующей электронной микроскопии с высоким разрешением. <...> В статье представлены микрофотографии краев металлизации на подложках арсенида галлия и кремния. <...> Показано, что вблизи края метод конфокальной микроскопии позволяет выявить изменения рельефа, связанные с упругими деформациями и металлической пленки, и подложки. <...> Более того, используемый метод позволяет определить кристаллографическую ориентацию подложки. <...> С помощью конфокального микроскопа Nanofocus, в модификации «surf mobile» [1], были изучены три различных образца. <...> Данный микроскоп имеет разрешение в вертикальном направлении (z-направлении) 2 нм, при разрешении в x-, y-направлениях — 0,7 мкм, при использовании объектива с увеличением 50х и числовой апертуре 0,8. <...> Такая разница в разрешении в двух взаимно перпендикулярных направлениях позволяет получать новую и достаточно уникальную информацию о поверхности. <...> Микроскоп предоставлен Калужским лазерным инновационно-технологическим центром — центром коллективного пользования, г. Обнинск, при помощи Министерства развития информационного общества и инноваций Калужской области и Агентства инновационного развития Калужской области (АИРКО). <...> Сплав серебра с германием на арсениде галлия. <...> В качестве примеров можно привести <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.