Влияние сверхтонкой структуры линий на перенос резонансного излучения в ртутном разряде низкого давления С. П. РЕШЁНОВ 1 МЭИ (ТУ) С начала 60-х годов прошлого столетия идет развитие численных моделей положительного столба разрядных ламп НД. <...> Совершенствование вычислительной техники позволяет всё строже учитывать особенности кинетики заселения уровней и энергетики процессов в разрядной плазме и получать достаточно достоверные данные о напряженности электрического поля, концентрации возбужденных атомов и заряженных частиц, а также o лучистых параметрах ламп, хорошо согласующиеся с результатами измерений. <...> Тем не менее, еще остается немало нерешённых проблем в части переноса излучения, расчета функции распределения электронов, учета неупругих атом-атомных столкновений и других процессов, что мешает успешно предсказывать параметры ЛЛ нового поколения с колбами малого диаметра и повышенной удельной мощностью. <...> Развитие безэлектродных ламп НД позволило перейти к более эффективным наполнениям с пониженным давлением инертного газа, что также стимулирует дальнейшее развитие численных моделей. <...> В настоящей статье рассматривается вопрос о необходимости и преимуществах использования интегрального уравнения переноса резонансного излучения с учетом сверхтонкой структуры линий в замкнутой численной модели положительного столба разряда НД. <...> Для расчета концентрации возбужденных атомов обычно используется система уравнений вида dn dt () , jj nk k div D gradn n jj kj j (1) где nj, τj и Dj – концентрация, эффективное время жизни и коэффициент диффузии атомов в состоянии j; αkj – вероятность их заселения из состояния k. ятности заселения и разрушения электронным ударом, за счет неупругих столкновений тяжелых частиц, в результате диссоциативной рекомбинации и излучательных процессов. <...> Последние учитываются величиной div – q дивергенцией вектора плотности потока фотонов (она касается заселения и разрушения <...>