Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634620)
Контекстум
.

Материалы электронной техники (90,00 руб.)

0   0
АвторыЗимин С. П., Горлачев Е. С., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова
ИздательствоЯрГУ
Страниц60
ID238213
АннотацияВ лабораторном практикуме содержатся теоретические сведения и излагается порядок выполнения лабораторных работ по дисциплине «Материалы электронной техники». Выполнено в соответствии с федеральным государственным образовательным стандартом.
Кому рекомендованоПредназначено для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Материалы электронной техники», блок БЗ), очной формы обучения.
УДК621.38(076.5)
ББК32.85я73
Материалы электронной техники : лаб. практикум / С. П. Зимин, Е. С. Горлачев; Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова .— Ярославль : ЯрГУ, 2012 .— 60 с. — URL: https://rucont.ru/efd/238213 (дата обращения: 20.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

П. Г. Демидова Кафедра микроэлектроники Материалы электронной техники Лабораторный практикум Рекомендовано Научно-методическим советом университета для студентов, обучающихся по направлению Электроника и наноэлектроника Ярославль 2012 1 УДК 621.3(076.5) ББК З85я73 Р 84 Рекомендовано Редакционно-издательским советом университета в качестве учебного издания. <...> П. Г. Демидова, 2012 2 Лабораторная работа № 1 Параметры монокристаллических кремниевых пластин Цель работы: изучение основных параметров и маркировки кремниевых пластин, проведение контроля геометрических параметров, определение типа проводимости методом термозонда. <...> Приборы и принадлежности: штангенциркуль, многооборотный индикатор-микрометр, источник питания «Агат», цифровой вольтметр В7-21А, зонд, нагреваемый зонд, набор монокристаллических пластин кремния. <...> Краткая теория работы Полупроводниковые пластины и их параметры Основными исходными материалами электронной техники для изготовления интегральных схем (ИС) являются монокристаллические полупроводниковые пластины круглой формы диаметром 40-300 мм и толщиной 350–1000 мкм из кремния, германия, арсенида галлия, антимонида индия и т. д., на которых методами планарной технологии формируют элементы, имеющие микронные и субмикронные размеры. <...> Для получения, кремниевых приборов и интегральных схем применяемые полупроводниковые пластины должны удовлетворять жестким требованиям по геометрическим размерам, кристаллографической ориентации, электрофизическим параметрам (концентрации и подвижности носителей заряда) и т. д. <...> Для характеристики полупроводниковых пластин производится их маркировка. <...> Первая буква (или две) означают исходный материал (К – кремний, Г – германий, АГ – арсенид галлия), вторая буква – тип проводимости (Э – электронная, Д – дырочная), третья буква (или две) – легирующие элементы (Б – бор, Ф – фосфор, С – сурьма, З – золото, Г – галлий, Ц – цинк, Т – теллур и т. д.) <...> . После буквенного <...>
Материалы_электронной_техники_лабораторный_практикум.pdf
Министерство образования и науки Российской Федерации Ярославский государственный университет им. П. Г. Демидова Кафедра микроэлектроники Материалы электронной техники Лабораторный практикум Рекомендовано Научно-методическим советом университета для студентов, обучающихся по направлению Электроника и наноэлектроника Ярославль 2012 1
Стр.1
УДК 621.3(076.5) ББК З85я73 Р 84 Рекомендовано Редакционно-издательским советом университета в качестве учебного издания. План 2012 года Рецензент кафедра микроэлектроники Ярославского государственного университета им. П. Г. Демидова Составители: С. П. Зимин, Е. С. Горлачев Р84 Материалы электронной техники: лабораторный практикум / сост. С. П. Зимин, Е. С. Горлачев; Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова. – Ярославль, 2012. – 60 с. В лабораторном практикуме содержатся теоретические сведения и излагается порядок выполнения лабораторных работ по дисциплине «Материалы электронной техники». Выполнено в соответствии с федеральным государственным образовательным стандартом. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Материалы электронной техники», блок Б3), очной формы обучения. УДК 621.3(076.5) ББК З85я73 © Ярославский государственный университет им. П. Г. Демидова, 2012 2
Стр.2
Литература 1. Valdes, L. B. Resistivity measurements on germanium for transistors / L. B. Valdes // Proc. of the IRE. – 1954. – Vol. 42. – P. 420-427. 2. Батавин, В. В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин. – М.: Радио и связь, 1985. – 264 c. 3. Павлов, Л. П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов / Л. П. Павлов. – М.: Высшая школа, 1987. – С. 10–32. Содержание Лабораторная работа № 1. Параметры монокристаллических кремниевых пластин ............................................................ 3 Лабораторная работа № 2. Измерение температурного коэффициента сопротивления резистивных пленок ....... 13 Лабораторная работа № 3. Изучение емкостных свойств диэлектрических пленок .................................................... 20 Лабораторная работа № 4. Измерение электропроводности диэлектриков ....................................................................... 27 Лабораторная работа № 5. Исследование гистерезиса ферромагнетиков в переменном магнитном поле ........... 38 Лабораторная работа № 6. Измерение удельного сопротивления материалов электроники четырехзондовым методом ..... 49 59
Стр.59

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.
.