Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 636760)
Контекстум
Электро-2024
Аналитика

Аналитика №1 2022 (1285,00 руб.)

0   0
Страниц86
ID807015
АннотацияЖурнал «Аналитика» - это глубокое и подробное освещение вопросов, связанных с рынком аналитического и лабораторного оборудования в России и странах СНГ. Журнал «Аналитика» - это единое информационное поле для ученых, исследователей, производителей аналитического оборудования, измерительных приборов, сырья и реагентов, аналитических лабораторий, а также представителей государственных и общественных институтов.
Аналитика .— 2022 .— №1 .— 86 с. — URL: https://rucont.ru/efd/807015 (дата обращения: 24.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Аналитика_№1_2022.pdf
Том 12 № 1 2022 Content Содержание Opinion V. K. Ivanov Development of Advanced Physical and Chemical Research and Diagnostics of Substances and Materials at IGIC RAS Modern Laboratory V. B. Baranovskaya, M. S. Doronina Scientific Equipment of IGIC RAS for Innovative Materials and Technologies. Report from the Joint Research Center of Physical Investigation Methods for Substances and Materials Joint Research Center of physical investigation methods for substances and materials was developed the basis of one of the leading research institutes in the country with a rich history and huge development potential. IGIC RAS is an institute of the I (highest) category according to the rating of the Ministry of Education and Science RF. Included in the international academic ranking of leading scientific institutions and universities CWUR (Center for World University Rankings). IGIC RAS is one of three leaders in the rating of publication activity of scientific organizations in Russia in chemistry for the period 2018–2021, according to the international database Scopus. Member of the Association of Analytical Centers of Russia Analitica. Keywords: analytical control, materials science, spectrometer, diffractometer, scanning electron microscope, EPR and NMR radio spectrometer I. R. Nureeva Experience of Using a MAES Analyzer for Analytical Control of Uranium Products in the Central Plant Laboratory of the Novosibirsk Chemical Concentrates Plant The VMK-Optoelektronika company has made a significant contribution to the development of spectral instrumentation for atomic emission spectrometry. The cooperation of the Central Plant Laboratory of the Novosibirsk Chemical Concentrates Plant with this company began in the mid-1990s with the upgrading of spectrographs and quantometers. At present, an Express spectrometer, which includes a universal Vezuvii-3 generator. Flexibility in setting the generator discharge parameters and the capabilities of the Atom 3.3 software allow analysis 38 14 8 Мнение В. К. Иванов Развитие передовых физико- химических исследований и диагностики веществ и материалов в ИОНХ РАН Современная лаборатория В. Б. Барановская, М. С. Доронина Приборная база ИОНХ РАН для инновационных материалов и технологий. Репортаж из Центра коллективного пользования Центр коллективного пользования физическими методами исследования веществ и материалов создан на базе одного из ведущих научноисследовательских институтов страны с богатейшей историей и огромным потенциалом развития. ИОНХ РАН является институтом первой (высшей) категории по рейтингу Минобрнауки РФ. Входит в международный академический рейтинг ведущих научных институтов и вузов CWUR (Center for Word University Rankings). Находится в тройке лидеров в рейтинге публикационной активности научных организаций России по химии за период 2018-2021 годов по данным международной базы Scopus. Состоит в Ассоциации аналитических центров России «Аналитика». Ключевые слова: аналитический контроль, материаловедение, спектрометр, дифрактометр, сканирующий электронный микроскоп, радиоспектрометры ЭПР и ЯМР И. Р. Нуреева Применение анализатора МАЭС для аналитического контроля урановой продукции в центральной заводской лаборатории Новосибирского завода химконцентратов Спектральное оборудование компании «ВМК-Оптоэлектроника» внесло значительный вклад в развитие приборного обеспечения метода атомноэмиссионной спектрометрии. Сотрудничество центральной заводской лаборатории ПАО «Новосибирский завод химконцентратов» (НЗХК) с этой компанией началось в середине 90-х годов с модернизации спектрографов и квантометров. В настоящее время для аналитического контроля урановой продукции в лаборатории внедрен спектрометр «Экспресс». Гибкость АНАЛИТИКА© Перегистрирован в Федеральной службе по надзору в сфере связи и массовых коммуникаций 7 сентября 2017 г., ПИ № ФС77-70983 Журнал издается с 2011 года 6 раз в год. Журнал включен в Российский индекс научного цитирования (РИНЦ), в Перечень рецензируемых научных изданий ВАК 18.03.2016. На сайте Научной электронной библиотеки eLIBRARY.RU доступны полные тексты статей. Статьи из номеров журнала текущего года предоставляются на платной основе. Учредитель – Ао «рИц «ТехНоСферА» Генеральный директор: О. А. Казанцева Главный редактор: В. Б. Барановская Заместитель главного редактора: В. В. Родченкова Рукописи рецензируются, но не возвращаются. Срок рассмотрения рукописей – 6 недель. Корректор: А. В. Лужкова Компьютерная верстка: А. А. Небольсин Руководитель проекта: О. А. Лаврентьева, j-analytics@mail.ru Ответственный секретарь: Э. А .Газина, journal@electronics.ru Сбыт и подписка: А. А. Метлов, sales@technosphera.ru Е. В. Зайкова, magazine@technosphera.ru Тираж 4 500 экз. Цена договорная. Сдано в печать 05.03.2022, заказ № 220 370. © При перепечатке ссылка на журнал «АНАЛИТИКА» обязательна. Мнение редакции не всегда совпадает с точкой зрения авторов статей. За содержание рекламных материалов редакция ответственности не несет. Отпечатано в соответствии с предоставленными материалами в ООО «Юнион Принт», г. Н. Новгород, ул. Окский съезд, д. 2 Ао «рИц «ТехНоСферА» Адрес редакции: Москва, ул. Краснопролетарская, д. 16, стр. 2 Тел.: +7 495 234-01-10 Факс: +7 495 956-33-46 journal@electronics.ru Для писем: 125319, Москва, а/я 91 www.j-analytics.ru elibrary.ru www.e.lanbook.ru 2 www.j-analytics.ru
Стр.4

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
Антиплагиат система на базе ИИ