Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 573467)
Консорциум Контекстум Информационная технология сбора цифрового контента
Уважаемые СТУДЕНТЫ и СОТРУДНИКИ ВУЗов, использующие нашу ЭБС. Рекомендуем использовать новую версию сайта.

Теоретические основы растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа наноматериалов: учеб. пособие (759,00 руб.)

0   0
Страниц116
ID775268
ISBN978-5-8149-2914-3
Теоретические основы растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа наноматериалов: учеб. пособие / Полонянкин Д.А., Блесман А.И., Постников Д.В., Теплоухов А.А. — 116 с. — ISBN 978-5-8149-2914-3 .— URL: https://rucont.ru/efd/775268 (дата обращения: 03.12.2021)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Теоретические_основы_растровой_электронной_микроскопии_и_энергодисперсионного_анализа_наноматериалов_учеб._пособие_.pdf
УДК 537.533.35:620.3(075) ББК 22.338+30.6я73 Т33 Авторы: Д. А. Полонянкин, А. И. Блесман, Д. В. Постников, А. А. Теплоухов Рецензенты: В. И. Струнин, д.ф.-м.н., профессор, зав. кафедрой экспериментальной физики и радиофизики ОмГУ им. Ф. М. Достоевского; П. М. Корусенко, к.ф.-м.н., н.с. лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур Омского научного центра СО РАН Теоретические основы растровой электронной микроскопии ISBN 978-5-8149-2914-3 Представлены теоретические основы методов растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа, а также аспекты их применения к исследованию размеров, формы, состава, структуры и других физико-химических свойств наноматериалов. Пособие разработано в соответствии с федеральным государстУДК 537.533.35:620.3(075) ББК 22.338+30.6я73 Печатается по решению редакционно-издательского совета Омского государственного технического университета Т33 и энергодисперсионного анализа наноматериалов : учеб. пособие / [Д. А. Полонянкин и др.] ; Минобрнауки России, ОмГТУ. – Омск : Изд-во ОмГТУ, 2019. – 116 с. : ил. венным образовательным стандартом высшего образования и предназначено для обучающихся по направлению подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия». ISBN 978-5-8149-2914-3 © ОмГТУ, 2019 2
Стр.2
ОГЛАВЛЕНИЕ ВВЕДЕНИЕ ................................................................................................................. 4 1. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ .................................................................................................. 5 1.1. Возможности, особенности и преимущества методов РЭМ и ЭДА как универсального инструмента прикладных и фундаментальных исследований ................................................................................................... 5 1.2. Устройство растрового электронного микроскопа ..................................... 7 1.3. Термоэлектронная эмиссия ............................................................................ 9 1.4. Распределение электронов по скоростям и энергиям ............................... 16 1.5. Пробеги электронов в веществе .................................................................. 22 Контрольные вопросы ......................................................................................... 60 2. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО АНАЛИЗА .... 61 2.1. Закон Мозли .................................................................................................. 61 2.2. Обратноотраженные электроны .................................................................. 68 2.3. Композиционный и топографический контраст ......................................... 81 Контрольные вопросы ......................................................................................... 85 3. ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ К ИССЛЕДОВАНИЮ МЕТОДАМИ РЭМ и ЭДА .................................................................................. 86 4. РАБОТА С УПРАВЛЯЮЩЕЙ ПРОГРАММОЙ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА JEOL JMC-5700 ....................................................................... 88 4.1. Основные функции ....................................................................................... 88 4.2. Юстировка электронной пушки микроскопа ............................................. 91 4.3. Параметры формируемого изображения и дополнительные функции меню электронного микроскопа JEOL JMC-5700 ..................................... 92 5. ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ РЭМ и ЭДА .......................................................... 95 ЗАКЛЮЧЕНИЕ ...................................................................................................... 102 БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК .................................................................. 103 ПРИЛОЖЕНИЕ А. Микрофотография перегоревшей нити вольфрамового катода ......................................................................................... 112 ПРИЛОЖЕНИЕ Б. Микрофотографии образца во вторичных (SEI) и обратноотраженных электронах, топографический (BET) и композиционный контраст (BEC) .................................................................. 113 ПРИЛОЖЕНИЕ В. Микрофотографии углеродных нанотрубок, полученные методом РЭМ, увеличение ×1000, ×3000 и ×10 000 крат ......... 114 ПРИЛОЖЕНИЕ Г. Микрофотографии образцов алмазоподобных растворов, полученных методом РЭМ, увеличение ×3000, ×15 000 и ×30 000 крат ...... 115 3
Стр.3

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически