СОДЕРЖАНИЕ
Номер 9, 2018
Рентгеновская топография: вчера, сегодня и перспективы
Э. В. Суворов
Физико-химические процессы при синтезе новых детекторов рентгеновского
излучения на основе композитов YAG:Ce–галогенидные плавни
А. В. Вишняков, Е. А. Вишнякова, Т. Ю. Киселева, И. В. Иванов
Диагностика фазового состава пленок ЦТС по спектрам комбинационного
рассеяния света: идентификация фаз
CИсследование начальной стадии адсорбции фторированных фуллеренов
В. Г. Бешенков, А. Г. Знаменский, А. В. Иржак, В. А. Марченко
60F18 на поверхности Cu(001)
С. И. Орешкин, Д. А. Музыченко, А. И. Орешкин, В. И. Панов,
В. А. Яковлев, Р. З. Бахтизин
Особенности кластеризации фуллеренов С60 в смеси толуол/N-метил-2-пирролидон
Т. В. Нагорная, Е. А. Кизима, Л. А. Булавин, Д. Худоба, В. М. Гарамус,
М. В. Авдеев, В. Л. Аксенов
Адсорбция бутилового ксантогената на поверхности сульфидных минералов
в условиях их предварительной обработки продуктами электролиза воды
по данным атомно-силовой микроскопии и ИК-фурье-спектроскопии
Е. В. Копорулина, М. В. Рязанцева, Е. Л. Чантурия, Е. С. Журавлева
Кристаллическая структура интерметаллического тонкопленочного конденсата
системы Cu–Sn
А. Н. Макрушина, В. А. Плотников, Б. Ф. Демьянов, С. В. Макаров
Модификация Si, имплантированного Zn, путем облучения быстрыми ионами Xe
В. В. Привезенцев, В. А. Скуратов, В. С. Куликаускас, А. В. Макунин,
С. В. Ксенич, Э. А. Штейнман, А. Н. Терещенко, А. В. Горячев
Особенности ионно-лучевой полировки поверхности сапфира
Л. С. Лунин, Б. М. Синельников, И. А. Сысоев
Изучение влияния внедренных атомов на коэффициенты распыления
кремния и кремния с тонкой оксидной пленкой
Д. А. Ташмухамедова, М. Б. Юсупжанова, А. К. Ташатов, Б. Е. Умирзаков
Космическая технологическая система с дистанционным энергоснабжением
по лазерному каналу
Р. А. Евдокимов, В. А. Корнилов, А. А. Лобыкин, В. Ю. Тугаенко
Численный метод определения фактической площади контакта соприкасающихся тел
А. Д. Ежов, Л. В. Быков, С. Ю. Меснянкин
Эмиссионная теория распыления аморфных материалов: зависимость
коэффициента распыления от угла падения первичного ионного пучка
А. Н. Пустовит
Исследование поверхностного фазового перехода полуограниченных
антиферромагнитных систем методом компьютерного моделирования
С. В. Белим, Е. В. Трушникова
Сравнение результатов моделирования синхротронного излучения
от поворотного магнита с экспериментальными данными
А. Е. Харисова, Д. А. Шкитов, А. И. Новокшонов, Я. Н. Сутыгина
106
102
97
82
92
78
67
73
60
49
43
36
31
23
3
Стр.1
Contents
No. 9, 2018
DA simultaneous English language translation of this journal is available from Pleiades Publishing, Ltd.
X-Ray Topography Yesterday, Today and Prospects
E. V. Suvorov
Physicochemical Processes in Synthesis of New Detectors of X-Ray Radiation
Based on YAG:Ce-Halide Fluxes
A. V. Vishnyakov, E. A. Vishniakova, T. Yu. Kiseleva, I. V. Ivanov
PPhase Composition Diagnostics of PZT Films by Raman Spectroscopy:
hase Identification
V. G. Beshenkov, A. G. Znamenskii, A. V. Irzhak, V. A. Marchenko
Study of Initial Stage of Fluorinated C60F18 Fullerene Adsorption
on Cu(001) Surface
S. I. Oreshkin, D. A. Muzychenko, A. I. Oreshkin, V. I. Panov,
V. A. Yakovlev, R. Z. Bakhtizin
Clusterization Aspects of Fullerene C60 in Toluene/N-Methyl-2-Pyrrolidone Mixture
T. V. Nagorna, E. A. Kyzyma, L. A. Bulavin, D. Chudoba, V. M. Garamus,
M. V. Avdeev, V. L. Aksenov
Adsorption of Butyl Xanthate on the Surface of Sulfide Minerals under Conditions
Fof Their Preliminary Processing of Water Electrolysis Products According to Atomic
orce Microscopy and Infrared Fourier Spectroscopy Data
E. V. Koporulina, M. V. Ryazantseva, E. L. Chanturiya, E. S. Zhuravleva
Crystal Structure of Intermetallic Thin-Film Capacitor of Cu–Sn System
A. N. Makrushina, V. A. Plotnikov, B. F. Demyanov, S. V. Makarov
Modification of Silicon Implanted with Zinc by Irradiation with Fast Xenon Ions
V. V. Privezentsev, V. A. Skuratov, V. S. Kulikauskas, A. V. Makunin, S. V. Ksenich,
E. A. Steinman, A. N. Tereshchenko, A. V. Goryachev
Features of Ion-Beam Treatment of Sapphire Surface
L. S. Lunin, B. M. Sinel’nikov, I. A. Sysoev
Study of the Effect of Interstitial Atoms of Silicon and Silicon Spray
Rates with a Thin Oxide Films
D. A. Tashmukhamedova, M. B. Yusupjanova, A. K. Tashatov, B. E. Umirzakov
bSpace Technological System with Remote Power Supplying
y Wireless Laser Channel
R. A. Evdokimov, V. A. Kornilov, A. A. Lobykin, V. U. Tugaenko
Numerical Method of Determining the Real Area of Contacting Surfaces
A. D. Ezhov, L. V. Bykov, S. Yu. Mesnyankin
Emission Theory of Amorphous Material Sputtering: the Dependence
of the Sputtering Coefficient on the Angle of Incidence of a Primary Ion Beam
А. N. Pustovit
SResearch of Surface Phase Transition in Semi-Infinite Antiferromagnetic
ystems by Computer Simulation Method
S. V. Belim, E. V. Trushnikova
Сomparison of Synchrotron Radiation Simulation Results from Bending
Magnet with Experimental Data
A. E. Harisova, D. A. Shkitov, A. I. Novokshonov, Y. N. Sutygina
106
102
97
78
82
92
67
73
49
60
43
36
23
31
istributed worldwide by Springer. Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techhiques ISSN 1027-4510.
3
Стр.2