УДК 621.3.019 АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ КОНТРОЛЬНЫХ ИСПЫТАНИЙ НА БЕЗОТКАЗНОСТЬ КМДП СБИС Б. П. <...> Петрухин, Н. А. Шавыкин Проведен анализ данных результатов испытаний на безотказность КМДП БИС и СБИС, производимых ведущими фирмами (“Xilinx” и “Altera”). <...> Получены верхние оценки интенсивности отказов с доверительной вероятностью P = 0,9 для всех видов цифровых ИМС, производимых этими фирмами. <...> Ключевые слова: сверхбольшие интегральные микросхемы, программируемые логические массивы, элементы памяти, показатели безотказности. <...> ВВЕДЕНИЕ Основными элементами цифровой техники в мире сегодня являются интегральные полевые комплементарные микросхемы (КМДП ИС) — программируемые массивы логических элементов, микропроцессоры, различные элементы памяти и т. п. <...> Основные производителями больших и сверхбольших КМДП ИС — фирмы “Altera”, “Xilinx”, “Atmel”, “Intel” и др. <...> Указанные элементы относятся к классу высоконадежных изделий, у которых показатели безотказности (например, интенсивность отказов) составляет один отказ на сто миллионов приборочасов и менее. <...> Поэтому для подтверждения таких показателей нужно проводить контрольные испытания в форсированных режимах и условиях [1], при этом изготовители предупреждают, что пользоваться значениями интенсивности отказов, полученными при контрольных испытаниях, для оценки надежности изделий, в которые входят эти элементы, не рекомендуется. <...> Цель данной работы состоит в оценке возможности использования результатов контрольных испытаний, проводимых фирмами “Altera” и “Xilinx” в течение последних пяти и более лет. <...> АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ КОНТРОЛЬНЫХ ИСПЫТАНИЙ КМДП ИС ФИРМЫ “ALTERA” Испытания на безотказность фирма проводит в соответствии с MIL-STD-883 или JEDEC Std. под нагрузкой в форсированных режимах и условиях [2, 3]. <...> Температура испытаний Tи не менее 125 °C; напряжение питания на 20 % превышает номинальное значение; продолжительность испытаний t не менее 1000 ч; объем выборки зависит от сложности. <...> В процессе <...>