Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635254)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Датчики и системы. Sensors & Systems  / №11 (126) 2009

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ РЕЗИСТИВНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ НА СВЧ (150,00 руб.)

0   0
Первый авторБелков
АвторыМалышев И.Н., Никулин С.М., Симаков С.В., Уткин В.Н.
Страниц4
ID600816
АннотацияРассмотрена методика определения элементов схемных моделей резистивных электронных компонентов по результатам измерений сопротивлений на постоянном токе и волновых параметров рассеяния в полосковых линиях передачи
УДК621.317.33
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ РЕЗИСТИВНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ НА СВЧ / И.Г. Белков [и др.] // Датчики и системы. Sensors & Systems .— 2009 .— №11 (126) .— С. 3-6 .— URL: https://rucont.ru/efd/600816 (дата обращения: 14.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 621.317.33 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ РЕЗИСТИВНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ НА СВЧ И. Г. Белков, И. Н. Малышев, С. М. Никулин, С. В. Симаков, В. Н. Уткин Рассмотрена методика определения элементов схемных моделей резистивных электронных компонентов по результатам измерений сопротивлений на постоянном токе и волновых параметров рассеяния в полосковых линиях передачи. <...> Ключевые слова: резистивные микроэлектронные компоненты, контактное устройство, волновые параметры рассеяния, полосковые линии, импедансы, схемные модели, собственные параметры, векторный анализатор цепей. <...> Величину электрического сопротивления резистивных микроэлектронных пленочных компонентов (резисторов, аттенюаторов, согласованных оконечных нагрузок), устанавливаемых методом поверхностного монтажа в печатные платы, измеряют на постоянном токе с помощью омметров. <...> Однако на сверхвысоких частотах существенное влияние на работоспособность и верхнюю границу частотного диапазона микроэлектронных компонентов оказывают собственные электрические емкости и индуктивности. <...> Реактивную составляющую импеданса изделий определяют косвенными методами по результатам измерений волновых параметров рассеяния контактных устройств с внешними коаксиальными соединителями векторными анализаторами цепей, при этом требуется исключить влияние контактного устройства на величину определяемых параметров. <...> Отечественные производители пассивных радиокомпонентов вместо частотных характеристики изделий часто приводят только значение КСВН, знание которого недостаточно для использования электронных компонентов в большинстве радиотехнических приложений. <...> Микроэлектронный резистивный компонент или чип-резистор (ЧР) стандартной конструкции показан на рис. <...> В резисторе между охватывающими контактами, разделенными диэлектрической подложкой, имеется паразитная емкость, шунтирующая активное сопротивление. <...> В резистивной пленке возникает <...>