Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635212)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Датчики и системы. Sensors & Systems  / №4 2016

ПРОГНОЗИРОВАНИЕ ВЕРОЯТНОСТИ ОТКАЗА FLASH-ПАМЯТИ ПРИ НИЗКОИНТЕНСИВНОМ ОБЛУЧЕНИИ (150,00 руб.)

0   0
Первый авторОрешков Павел Николаевич
АвторыПопов Виктор
Страниц3
ID579526
АннотацияПриведен результат определения вероятности радиационно-стимулированного отказа flash-памяти микроконтроллера в условиях орбиты МКС. Выбрана модель, описывающая совместное воздействие ионизирующего излучения, электрического режима и температуры
УДК681.3.07.551.521.64
Орешков, П.Н. ПРОГНОЗИРОВАНИЕ ВЕРОЯТНОСТИ ОТКАЗА FLASH-ПАМЯТИ ПРИ НИЗКОИНТЕНСИВНОМ ОБЛУЧЕНИИ / П.Н. Орешков, Виктор Попов // Датчики и системы. Sensors & Systems .— 2016 .— №4 .— С. 63-65 .— URL: https://rucont.ru/efd/579526 (дата обращения: 12.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 681.3.07.551.521.64 ПРОГНОЗИРОВАНИЕ ВЕРОЯТНОСТИ ОТКАЗА FLASH-ПАМЯТИ ПРИ НИЗКОИНТЕНСИВНОМ ОБЛУЧЕНИИ FORECASTING OF PROBABILITY OF REFUSAL OF FLASH-MEMORY AT LOW INTENSIVE IRRADIATION Орешков Павел Николаевич аспирант E-mail: oreshkov.p@gmail.com Попов Виктор Дмитриевич д-р техн. наук, профессор E-mail: wdpopov@mail.ru Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”, Москва Аннотация: Приведен результат определения вероятности радиационно-стимулированного отказа flash-памяти микроконтроллера в условиях орбиты МКС. <...> Выбрана модель, описывающая совместное воздействие ионизирующего излучения, электрического режима и температуры. <...> ВВЕДЕНИЕ Микросхемы памяти широко применяются как в бытовых приборах, так и в специализированных устройствах, используемых в космических аппаратах. <...> На борту космического аппарата микросхемы памяти подвергаются воздействию космического ионизирующего излучения (ИИ), длительное воздействие которого приводит к деградации характеристик, а иногда и к отказу. <...> Космическое излучение является ИИ низкой интенсивности, при котором проявляются эффекты, которых нет в случаях облучения с высокой и средней мощностями дозы. <...> Кроме этого, в условиях космического полета температурный режим изменяется в достаточно широких пределах (на внешней поверхности Международной космической станции (МКС) от –160 до +120 °С), что тоже вносит вклад в изменение характеристик полупроводниковых приборов. <...> Микросхемы flash-памяти широко используются как отдельные элементы бортовых устройств, так и в составе сложно-функциональных устройств и систем. <...> Поэтому отказ в работе flash-памяти приводит к отказу в целом устройства или системы. <...> На практике радиационностимулируемые отказы устройств определяют при проведении моделирующих испытаний [1, 2] на гамма-установках, поскольку на ускорителях невозможно проводить длительные облучения при низких мощностях дозы ИИ. <...> В работе [3] была предложена Oreshkov Pavel N. Postgraduate E-mail: oreshkov.p@gmail.com Popov Viktor D. <...> (Tech.), Professor E-mail: wdpopov@mail.ru National <...>