Generator for Producing Trace Vapor Concentrations of 2, 4, 6-Trinitrotoluene, 2, 4-Dinitrotoluene, and Ethylene Glycol Dinitrate for Calibrating Explosives Vapor Detectors // Analytical Chemistry Division, National Bureau of Standards. <...> IMS Spectrometers with Radioactive, X-ray, UV and Laser Ionization // International Journal for Ion Mobility Spectrometry. <...> Ion Mobility Spectrometry: A tool in the war against terror // Bull. <...> Separation of Different Ion Structures in Atmospheric Pressure Photoionization — Ion Mobility Spectrometry — Mass Spectrometry (APPI-IMS-MS) // Journal of the American Society for Mass Spectrometry, 21 (9), 2010, 1565—1572. <...> УДК 621.3.049 ДЕЙСТВИЕ СВЧ-ИЗЛУЧЕНИЯ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ MICROWAVE ELECTROMAGNETIC RADIATION EFFECTS ON SEMICONDUCTOR DIODES Шуренков Владимир Васильевич канд. техн. наук, доцент E-mail: vvshurenkov@mephi.ru Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”, Москва Аннотация: Проанализированы эффекты воздействия СВЧизлучения на полупроводниковые диоды, которые являются элементами электронных приборов и микросистем. <...> Обсуждается механизм воздействия СВЧ-излучения на рекомбинацию носителей тока в слое объемного заряда p-n-переходов. <...> ВВЕДЕНИЕ Исследования воздействия электромагнитного излучения (ЭМИ) на электронные приборы и системы, включая полупроводниковые структуры и интегральные микросхемы, ведутся многие годы [1—6]. <...> Однако проблема определения физических механизмов воздействия ЭМИ на работу элементной базы электронной аппаратуры по-прежнему остается актуальной. <...> (Tech.), Associate Professor E-mail: vvshurenkov@mephi.ru National Research Nuclear University MEPhI, Moscow Abstract: The high frequency electromagnetic radiation effects on semiconductor devices and the recombination processes in semiconductor p-n junction under HF radiation are discussed. <...> Keywords: electromagnetic radiation effects, recombination of charge carriages, p-n junction. <...> В статье рассматриваются эффекты воздействия электромагнитного, в том числе и СВЧ, излучения на электронную аппаратуру и ее элементы — полупроводниковые приборы и представлены основные результаты воздействия ЭМИ на изделия, содержащие полупроводниковые приборы. <...> Основное внимание при этом уделяется результатам в диодных структурах как основных элементах электронных систем. <...> Сделан <...>