Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635165)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Вестник Воронежского государственного университета. Серия: Физика. Математика  / №2 2013

ВЛИЯНИЕ ИМПУЛЬСНОГО ФОТОННОГО ОТЖИГА НА ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И ЭЛЕКТРОННОЕ СТРОЕНИЕ ПЛЕНОК SiOx, ИМПЛАНТИРОВАННЫХ УГЛЕРОДОМ (90,00 руб.)

0   0
Первый авторСпирин
АвторыТерехов В.А., Анисимов А.В., Нестеров Д.Н., Агапов Б.А., Степанова Н.А., Занин И.Е., Сербин О.В., Солдатенко С.А., Тетельбаум Д.И., Белов А.И., Михайлов А.Н.
Страниц8
ID511854
Аннотацияметодами рентгеновской эмиссионной спектроскопии, рентгеновской дифракции, просвечивающей электронной спектроскопии исследовано формирование нанокристаллов кремния и карбида кремния в процессе ИФО обработки пленок нестехиометрического оксида кремния SiOx после имплантации углерода. Доказано формирование нанокристаллов кремния со средним размером 10 нм, а также образование нанокристаллов карбида кремния. Выявлен резкий рост фотолюминесценции в видимой области 460-800 нм после ИФО отжига
УДК29.19.16
ВЛИЯНИЕ ИМПУЛЬСНОГО ФОТОННОГО ОТЖИГА НА ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И ЭЛЕКТРОННОЕ СТРОЕНИЕ ПЛЕНОК SiOx, ИМПЛАНТИРОВАННЫХ УГЛЕРОДОМ / Д.Е. Спирин [и др.] // Вестник Воронежского государственного университета. Серия: Физика. Математика .— 2013 .— №2 .— С. 107-114 .— URL: https://rucont.ru/efd/511854 (дата обращения: 08.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

УДК 29.19.16 ВЛИЯНИЕ ИМПУЛЬСНОГО ФОТОННОГО ОТЖИГА НА ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И ЭЛЕКТРОННОЕ СТРОЕНИЕ ПЛЕНОК SiOx, ИМПЛАНТИРОВАННЫХ УГЛЕРОДОМ Д. Е. <...> Михайлов3 1 Воронежский государственный университет 2 Воронежский государственный технический университет 3 Научно-исследовательский физико-технический институт Поступила в редакцию 05.09.2013 г. Аннотация: методами рентгеновской эмиссионной спектроскопии, рентгеновской дифракции, просвечивающей электронной спектроскопии исследовано формирование нанокристаллов кремния и карбида кремния в процессе ИФО обработки пленок нестехиометрического оксида кремния SiOx после имплантации углерода. <...> Доказаноформирование нанокристаллов кремния со средним размером 10 нм, а также образование нанокристаллов карбида кремния. <...> Выявлен резкий рост фотолюминесценции в видимой области 460-800 нм после ИФО отжига. <...> Abstract: silicon and silicon carbide nanocrystals formation under the pulsed photon annealing of carbon implanted non stoichiometric silicon oxide films SiOx was investigated by means of X-ray emission spectroscopy, X-ray diffraction and transmission electron microscopy. <...> Silicon nanocrystals formation is shown with mean sizes of about 10 nm as well as silicon carbide nanocrystals formation. <...> ВВЕДЕНИЕ Получение нанокристаллов кремния заданного размера является важной и актуальной задачей современной опто- и наноэлектронники. <...> Такие нанокристаллы, помещенные в аморфную матрицу, обладают достаточно эффективной люминесценцией, в отличие от монокристаллического кремния, который является непрямозонным материалом. <...> С уменьшением размеров кристаллов кремния до нанометровых величин начинает работать квантово- размерное ограничение, благодаря чему вероятность излучательной рекомбинации резко возрастает [1]. <...> Одним из простых методов получения нанокристаллов кремния в аморфной матрице является нанесение пленок метастабильного монооксида кремния с последующим термическим  Спирин Д. Е., Терехов В. А., Анисимов А. В., Нестеров Д. Н., Агапов Б. А., Степанова Н. А., Заc нин И. <...> № 2 Влияние импульсного фотонного отжига на фазовый состав и электронное строение <...>