Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 639001)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат
Машиностроитель  / №9 2016

МЕТОДИКА И АППАРАТУРА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА (295,00 руб.)

0   0
Первый авторВьюгинов
АвторыГудков А.Г., Добров В.А., Кудряшова Т.Ю., Мещеряков А.В., Усыченко В.Г., Шашурин В.Д., Видякин С.И., Чижиков С.В.
Страниц9
ID478794
АннотацияОписаны основные принципы работы стенда для измерения низкочастотных шумов полупроводниковых приборов в условиях производства. Представлена структурная схема установки для измерения низкочастотных шумов полупроводниковых изделий. Предложена методика, позволяющая проводить экспресс-анализ шумов приборов, находящихся на поверхности полупроводниковой пластины, и оценивать качество материала, из которого изготавливают полупроводниковый прибор. Представлена ВАХ GaN транзистора на SiC подложке после 15 часов работы, его энергетические спектры шумов тока стока и вывод о качестве GaN-материала, из которого изготовлен транзистор.
МЕТОДИКА И АППАРАТУРА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА / В.Н. Вьюгинов [и др.] // Машиностроитель .— 2016 .— №9 .— С. 44-52 .— URL: https://rucont.ru/efd/478794 (дата обращения: 17.06.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

М АШИНО СТРОИТЕЛЬ www.mashizdat.ru Вьюгинов В.Н., канд. физ.-мат. наук, директор ЗАО «Светлана-Электронприбор» Гудков А.Г., д-р техн. наук, профессор МГТУ им. <...> Н.Э.Баумана Добров В.А., начальник отдела ЗАО «Светлана-Электронприбор» Кудряшова Т.Ю., старший преподаватель СПбПУ Мещеряков А.В., канд. техн. наук, доцент СПбПУ Усыченко В.Г., д-р физ.-мат. наук, профессор СПбПУ Шашурин В.Д., д-р техн. наук, профессор, заведующий кафедрой «Технологии приборостроения» МГТУ им. <...> Н.Э. Баумана МЕТОДИКА И АППАРАТУРА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НИЗКОЧАСТОТНОГО ШУМА Описаны основные принципы работы стенда для измерения низкочастотных шумов полупроводниковых приборов в условиях производства. <...> Представлена структурная схема установки для измерения низкочастотных шумов полупроводниковых изделий. <...> Предложена методика, позволяющая проводить экспресс-анализ шумов приборов, находящихся на поверхности полупроводниковой пластины, и оценивать качество материала, из которого изготавливают полупроводниковый прибор. <...> Представлена ВАХ GaN транзистора на SiC подложке после 15 часов работы, его энергетические спектры шумов тока стока и вывод о качестве GaN-материала, из которого изготовлен транзистор. <...> (Eng.), professor of BMSTU Dobrov V.A., head of department of CSC Svetlana-Electronpribor Kudryashova T.Ju., senior lecturer of SPbPU Mescheryakov A.V., Ph.D. <...> (Eng.), professor, head of department «Technology of Instrument Engineering» of BMSTU Vidyakin S.I., post-graduate student of BMSTU Chizhikov S.V., assistant of BMSTU METHOD AND EQUIPMENT FOR MEASURING OF LOW-FREQUENCY NOISE The main operating principles of stand for the low-frequency noise measuring of semiconductor devices are described. <...> The structural scheme of device for the low-frequency noise measuring of semiconductor devices is described. <...> The method, allowing to carry out a express-analysis of low frequency noise transistors, lying on the surface of the semiconductor wafer, and to evaluate the quality of material used for production of semiconductor <...>