14 Прикладная физика, 2015, № 1 УДК 548.4, 546.06, 544.032.65 Применение фрактального анализа для исследования картин фотоиндуцированного рассеяния света в кристаллах ниобата лития Д. В. Мануковская, Н. В. Сидоров, М. Н. Палатников, А. В. Сюй Разработана методика определения фрактальной размерности картин фотоиндуцированного рассеяния света (ФИРС). <...> Исследована динамика проявления лазерно-индуцированных дефектов в слоях картин ФИРС стехиометрических монокристаллов ниобата лития различного генезиса посредством анализа фрактальной размерности слоев картин ФИРС. <...> Проведено сравнение данных о лазерно-индуцированных дефектах, полученных методом фрактального анализа слоев ФИРС с данными, полученными методом измерения угла раскрытия индикатрисы ФИРС. <...> Df Ключевые слова: ниобат лития, фотоиндуцированное рассеяние света, лазерно-индуцированные дефекты, фрактальная размерность. <...> Введение На дефектах, наведенных лазерным излучеОдним из наиболее важных фоторефрактивных материалов является сегнетоэлектрический кристалл ниобата лития LiNbO3. <...> Он обладает высокой лучевой стойкостью, нелинейно-оптическими, электрооптическими, пьезоэлектрическими, пироэлектрическими, фотовольтаическими и фоторефрактивными свойствами, что обуславливает возможность его применения в устройствах голографической записи информации, модуляции, дефлекции, преобразования и генерации излучения [1]. <...> В сегнетоэлектрическом монокристалле ниобата лития LiNbO3 под действием лазерного излучения в освещенной области возникают статические и флуктуирующие микроструктурные дефекты с показателем преломления, отличным от показателя преломления кристалла в отсутствие эффекта фоторефракции [2—6]. <...> E-mail: fizika@festu.khv.ru Статья поступила в редакцию 6 ноября 2014 г. © Мануковская Д. В., Сидоров Н. В., Палатников М. Н., Сюй А. В., 2015 нием, происходит фотоиндуцированное рассеяние света (ФИРС) [3—5]. <...> Картина ФИРС в кристалле ниобата лития многослойна [5, 7], ее вид носит <...>