Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634699)
Контекстум
.
Известия высших учебных заведений. Электроника

Известия высших учебных заведений. Электроника №5 2016 (1430,00 руб.)

0   0
Страниц94
ID316910
Аннотация На страницах журнала освещаются результаты научно-исследовательских работ, выполненных в вузах и НИИ, методические аспекты преподавания с учетом современных требований и форм обучения, дается информация о научных конференциях. Формируются специальные выпуски по тематическому признаку.
Известия высших учебных заведений. Электроника .— Москва : Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" .— 2016 .— №5 .— 94 с. : ил. — URL: https://rucont.ru/efd/316910 (дата обращения: 25.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Электроника”, 2016 © МИЭТ, 2016 СОДЕРЖАНИЕ Материалы электронной техники Вигдорович Е.Н., Ермошин И.Г. Рентгенодифрактометрические исследования структурных свойств слоев твердых растворов на основе нитрида галлия . <...> Анализ и моделирование кремниевых вертикальных комплементарных биполярных транзисторов . <...> Двойное преобразование энергии в радиоизотопном источнике питания . <...> Особенности роста наноструктур по механизму пар–жидкость– кристалл на поверхности пленок SnS при плазменной обработке . <...> Вольтамперометрический микросенсор на основе золотых микроэлектродов, модифицированных высокоспецифическим аптамером, для определения тромбина . <...> Особенности процесса формирования диэлектрической модулированной по толщине маски на основе локального зондового окисления . <...> Исследование и разработка схемы последовательного доступа к flash-памяти . <...> Электрохимический процесс осаждения пленок пермаллоя для магнитополупроводниковых микросистем . <...> Calculation and Investigation of Parameters of MIS Varicap with Charge Transfer for Microwave Devices of L-Range . <...> Features of Nanostructures Growth via Vapor–Liquid–Solid Mechanism on Surface of SnS Films during Plasma Treatment . <...> ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 2016 МАТЕРИАЛЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ELECTRONIC ENGINEERING MATERIALS УДК 621.315.592 Рентгенодифрактометрические исследования структурных свойств слоев твердых растворов на основе нитрида галлия Е. <...> Ermoshin2 1Physics and Technology Institute of Moscow Technological University 2SO «Elma-Malachite», Moscow Рассмотрены отличительные особенности дифрактометрии многослойных гетероструктур на основе нитрида галлия. <...> ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 2016 Рентгенодифрактометрические исследования структурных свойств слоев… На свойства получаемых гетероструктур оказывают влияние различные технологические параметры процесса. <...> Структурное совершенство эпитаксиальных слоев GaN по данным рентгеновской дифракции // Физика твердого тела. <...> Исследование структур AlGaN/GaN методом рентгеновской дифрактометрии / А.Г. Васильев, К.Л. Енишерлова, А.В. Лютцау и др. <...> Область научных интересов: технология полупроводников <...>
Известия_высших_учебных_заведений._Электроника_№5_2016.pdf
Известия высших учебных заведений ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 Учредители: Министерство образования и науки Российской Федерации Национальный исследовательский университет «МИЭТ» Главный редактор Чаплыгин Ю.А., чл.-корр. РАН, д.т.н., проф. Зам. главного редактора Гаврилов С.А., д.т.н., проф. Редакционная коллегия: Бархоткин В.А., д.т.н., проф. Бахтин А.А., канд. т. н., доц. Быков Д.В., д.т.н., проф. Горбацевич А.А., чл.-корр. РАН, д.ф.-м.н., проф. Грибов Б.Г., чл.-корр. РАН, д.х.н., проф. Казённов Г.Г., д.т.н., проф. Коноплёв Б.Г., д.т.н., проф. Коркишко Ю.Н., д.ф.-м.н., проф. Королёв М.А., д.т.н., проф. Красников Г.Я., акад. РАН, д.т.н., проф. Кубарев Ю.В., д.ф.-м.н., проф. Лабунов В.А., акад. НАН Беларуси, д.т.н., проф. Максимов И.А., PhD, проф. Лундского университета (Швеция) Меликян В.Ш., чл.-корр. НАН Армении, д.т.н., проф. Неволин В.К., д.ф.-м.н., проф. Неволин В.Н., д.ф.-м.н., проф. Петросянц К.О., д.т.н., проф. Сазонов А.Ю., PhD, проф. Университета Ватерлоо (Канада) Сауров А.Н., чл.-корр. РАН, д.т.н., проф. Селищев С.В., д.ф.-м.н., проф. Сигов А.С., акад. РАН, д.ф.-м.н., проф. Таиров Ю.М., д.т.н., проф. Телец В.А., д.т.н., проф. Тимошенков С.П., д.т.н., проф. Тихонов А.Н., д.т.н., проф. Усанов Д.А., д.ф.-м.н., проф. © “Известия вузов. Электроника”, 2016 © МИЭТ, 2016 СОДЕРЖАНИЕ Материалы электронной техники Вигдорович Е.Н., Ермошин И.Г. Рентгенодифрактометрические исследования структурных свойств слоев твердых растворов на основе нитрида галлия .................... 399 Гаджимагомедов С.Х., Алиханов Н.М.-Р., Эмиров Р.М., Палчаев Д.К., Мурлиева Ж.Х., Рабаданов М.Х., Садыков С.А., Хамидов М.М., Хашафа А. Д. Х. Структура и свойства наноструктурированных материалов: YBa2Cu3O7–, BiFeO3, Fe3O4 .................................................. 405 Микроэлектронные приборы и системы Храпов М.О., Гридчин В.А., Калинин С.В. Анализ и моделирование кремниевых вертикальных комплементарных биполярных транзисторов ....................................... 413 Сурин Ю.В., Спиридонов А.Б., Лицоев С.В., Мартынова В.П., Межов А.В., Карповская А.А. Расчет и исследование параметров МДП-варикапа с переносом заряда для СВЧ-устройств L-диапазона .............................. 421 Светухин В.В., Новиков С.Г., Беринцев А.В., Черторийский А.А., Алексеев А.С. Двойное преобразование энергии в радиоизотопном источнике питания ....... 429 Арутюнян С.С., Кагирина К.А., Лаврухин Д.В., Гамкрелидзе С.А., Иванова Н.Е. Устойчивость нитридных СВЧ монолитных интегральных схем преобразователя сигнала к облучению потоком нейтронов и гаммаизлучению .............................................................................. 435 2016 сентябрь–октябрь Научно-технический журнал Издается с 1996 г. Выходит 6 раз в год
Стр.1
Заведующая редакцией С.Г. Зверева Редактор А.В. Тихонова Научный редактор С.Г. Зверева Корректор И.В. Проскурякова Верстка А.Ю. Рыжков С.Ю. Рыжков Адрес редакции: 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1, МИЭТ Тел.: 8-499-734-6205 Е-mail: magazine@miee.ru http://www.miet.ru Подписано в печать 13.10.2016. Формат бумаги 6084 1/8. Цифровая печать. Объем 11,16 усл.печ.л., 10,032 уч.-изд.л. Заказ 90. Отпечатано в типографии ИПК МИЭТ 124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1, МИЭТ Свидетельство о регистрации № 014134 выдано Комитетом РФ по печати 12.10.95. Включен в Перечень рецензируемых научных изданий, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание ученой степени кандидата наук, на соискание ученой степени доктора наук. Включен в Российский индекс научного цитирования и в Рейтинг Science Index. Включен в Russian Science Citation Index на базе Web of Science. Нанотехнология Амиров И.И., Гременок В.Ф., Иванов В.А. Особенности роста наноструктур по механизму пар–жидкость– кристалл на поверхности пленок SnS при плазменной обработке ............................................................................. 442 ............................................................................................. Зимин С.П., Горлачев Е.С., Мокров Д.А., Микро- и наносистемная техника Уваров И.В., Морозов О.В., Аминов М.К., Изюмов М.О., Лемехов С.C., Куприянов А.Н., Козлов А.Н., Амиров И.И. Анализ изготовления чувствительного элемента микроакселерометра ........................ 448 Андрианова М.С., Губанова О.В., Кузнецов А.Е. Вольтамперометрический микросенсор на основе золотых микроэлектродов, модифицированных высокоспецифическим аптамером, для определения тромбина ........ 456 Абанин И.Е. Сравнительный анализ источников питания, возбуждаемых различными β-изотопами................... 462 Микропроцессорная техника Кочетков М.П. Совершенствование систем управления мобильными роботизированными комплексами ....... 467 Краткие сообщения Лемешко С.В., Сагунова И.В., Шевяков В.И. Особенности процесса формирования диэлектрической модулированной по толщине маски на основе локального зондового окисления ........................................................... 475 Карташёв С.С., Лосев В.В., Крупкина Т.Ю. Исследование и разработка схемы последовательного доступа к flash-памяти .......................................................................... 478 Амеличев В.В., Поломошнов С.А., Николаева Н.Н., Тихонов Р.Д., Куприянова М.А. Электрохимический процесс осаждения пленок пермаллоя для магнитополупроводниковых микросистем .............................................. 482 Юбилеи Неустроеву Степану Архиповичу – 90 лет ................... 485 Кубареву Юрию Васильевичу – 80 лет ......................... 486 К сведению авторов ............................................................ 487 394 Известия вузов. ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 2016
Стр.2
Proceedings of Universities. ELECTRONICS Volume 21 N 5 Founders: The Ministry of Education and Science of the Russian Federation The National Research University of Electronic Technology Editor-in-Chief Chaplygin Yu.A., Dr. Sci. (Tech.), Prof., Cor. Mem. RAS Deputy Editor-in-Chief Gavrilov S.A., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Editorial Board: Barkhotkin V.A., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Bahtin A.A., Cand. Sci. (Tech.) Bykov D.V., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Gorbatsevich A.A., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof., Cor. Mem. RAS Gribov B. G., Dr. Sci. (Chem.), Prof. Kazennov G.G., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Konoplev B.G., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Korkishko Yu.N., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof. Korolev M.A., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Krasnikov G.Ya., Dr. Sci. (Tech.), Prof., Acad. RAS Kubarev Yu.V., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof. Labunov V.A. (Belorussia), Dr. Sci. (Tech.), Prof. Maksimov I.A. (Sweden), PhD, Prof. of Lund University Melikyan V.Sh. (Armenia), Dr. Sci. (Tech.), Prof., Cor. Mem. NAS Nevolin V.K., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof. Nevolin V.N., Dr. Sci. (Phys.-Math.),Prof. Petrosyantz K.O., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Sazonov A.Yu. (Canada), PhD, Prof. of University of Waterloo Saurov A.N., Dr. Sci. (Tech.), Prof., Cor. Mem. RAS Selishchev S.V., Dr. Sci. (Phys.-Math.),Prof. Sigov A.S., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof., Acad. RAS Tairov Yu.M., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Telets V.A., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Timoshenkov S.P., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Tikhonov A.N., Dr. Sci. (Tech.), Prof. Usanov D.A., Dr. Sci. (Phys.-Math.), Prof. 2016 September–October The scientific-technical journal Published since 1996 Published 6 times per year CONTENTS Electronic engineering materials Vigdorovich E.N., Ermoshin I.G. X-Ray Diffractometric Studies on Structural Properties of Solid Solution Layers Based on Gallium Nitride ....................................................... 399 Gadzhimagomedov S.H., Alikhanov N.M-R., Emirov R.M., Palchaev D.K., Murlieva Zh.Kh., Rabadanov M.Kh., Sadykov S.A., Khamidov M.M., Hashafa A.D.H. Structure and Properties of Nanostructured Materials: YBCO, BiFeO3, Fe3O4 ........................................... 405 Microelectronic devices and systems Hrapov M.O., Gridchin V.A., Kalinin S.V. Analysis and Simulation of Silicon Vertical Complementary Bipolar Transistors ............................................................................... 413 Surin Yu.V., Spiridonov A.B., Litsoev S.V., Martinova V.P., Mezhov A.V., Karpovskaya A.A. Calculation and Investigation of Parameters of MIS Varicap with Charge Transfer for Microwave Devices of L-Range ............. 421 Svetukhin V.V., Novikov S.G., Berintsev A.V., Chertoriysky A.A., Alekseev A.S. Double Step Energy Conversion in Radioisotope Power Source ................................... 429 Arutyunyan S.S., Kagirina K.A., Lavrukhin D.V., © “Proceedings of Universities. Electronics”, 2016 © MIET, 2016 Gamkrelidze S.A., Ivanova N.E. Stability of Nitride Microwave Signal Converter ICs Irradiated by Neutrons and Gamma Radiation ................................................................... 435 Известия вузов. ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 2016 395
Стр.3
Head of editorial staff Zvereva S.G. Chief editors Tikhonova A.V., Proskuryakova I.V. Make-up Ryzhkov S.Yu. Ryzhkov A.Yu. Address: 124498, Moscow, Zelenograd, Bld. 1, Shokin Square, MIET, editorial office of the Journal «Proceedings of universities. Electronics» Tel.: +7-499-734-62-05 E-mail: magazine@miee.ru http://www.miet.ru The journal is printed at the printing workshop of the MIET 124498, Moscow, Zelenograd, Bld. 1, Shokin Square, MIET The registration certificate No.014134 was given by RF Press Committee on 12.10.95. The journal is included into the List of reviewed scientific publications, in which the main scientific results of thesis for candidate of science and doctor degrees must be published. The journal is included into the Russian index of scientific citing and into the Rating Science Index. The journal is included into the Russian Science Citation Index on the Web of Science basis. Nanotechnology Zimin S.P., Gorlachev E.S., Mokrov D.A., Amirov I.I., Gremenok V.F., Ivanov V.A. Features of Nanostructures Growth via Vapor–Liquid–Solid Mechanism on Surface of SnS Films during Plasma Treatment ..................................... 442 Micro- and nanosystem technology Uvarov I.V., Morozov O.V., Aminov M.K., Izyumov M.O., Lemechov S.S., Kupriyanov A.N., Kozlov A.N., Amirov I.I. Analysis of Process for Manufacturing Microaccelerometer Sensitive Element .................................................................. 448 Andrianova M.S., Gubanova O.V., Kuznetsov A.E. Voltammetric Microsensor Based on Gold Microelectrodes Modified With Highly Specific Aptamer for Thrombin Determination ............................................................................. 456 Abanin I.E. Comparative Analysis of Power Sources Excited by Various Я Isotopes .................................................... 462 Microprocessor systems Kochetkov M.P. Improvement of Control Systems by Mobile Robotic Complexes ........................................................ 467 Brief reports Lemeshko S.V., Sagunova I.V., Shevyakov V.I. Peculiarities of Process of Forming Dielectric Mask Modulated by Thickness Based on Local Anodic Oxidation ....................... 475 Kartashev S.S., Losev V.V., Krupkina T.U. Research and Development Circuit of Serial Access to Flash-Memory ...... 478 Amelichev V.V., Polomoshnov S.A., Nikolaeva N.N., Tikhonov R.D., Kupriyanova M.A. Electrochemical Deposition Process for Permalloy Films on MagnetoSemiconductor Microsystems ............................................... 482 396 Известия вузов. ЭЛЕКТРОНИКА Том 21 № 5 2016
Стр.4