МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Государственного образовательного учреждение высшего профессионального образования «Калмыцкий государственный университет» ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИИ Методические указания к спецкурсу «Основы кристаллографии и рентгеноструктурного анализа» для студентов физических и инженерных специальностей Элиста 2011 Составители: доц. <...> «Основные понятия кристаллографии»: Методические указания к спецкурсу «Основы кристаллографии и рентгеноструктурного анализа» для студентов специальностей 010701 «Физика», 270102 ПГС и 280402 ПООТ / Калм.ун –т. <...> В работе приведены основные свойства кристаллов, тип симметрии и разновидности кристаллических решеток. <...> Основные понятия кристаллографии Кристаллография изучает атомную структуру кристаллов, их симметрию и внешнюю огранку. <...> Природные кристаллы интересовали философов античного мира, а в настоящее время кристаллография продолжает бурно развиваться. <...> Шенфлис вывели 230 групп симметрии, которыми описываются атомные структуры кристаллов. <...> Лауэ в 1912 г. явления дифракции рентгеновских лучей на кристаллических структурах позволило не только экспериментально подтвердить основные представления об атомных структурах кристаллов, но и дало мощный метод исследования структуры кристаллов. <...> Достижения кристаллографии позволило выращивать кристаллы в промышленных масштабах с наперед заданными свойствами. <...> Характерные свойства кристаллов Кристаллы представляют собой однородные твердые тела, ограниченные плоскими гранями, образующимися при закономерном распределении в пространстве ионов, атомов и молекул. <...> В отдельных случаях кристаллы могут иметь округлые грани, возникновение которых связано с особенностями условий их роста. <...> Грани кристаллов пересекаются по ребрам, последние же пересекаются в вершинах. <...> Грани, ребра и вершины кристалла являются элементами его огранения. <...> Так, например, у поваренная соли <...>
Основные_понятия_кристаллографии_методические_указания_к_спецкурсу_Основы_кристаллографии_и_рентгеноструктурного_анализа_для_студентов_физических_и_инженерных_специальностей..pdf
Составители: доц. Очиров В.А., доц. Сангаджиев М.М.
«Основные понятия кристаллографии»: Методические указания к спецкурсу
«Основы кристаллографии и рентгеноструктурного анализа» для студентов
специальностей 010701 «Физика», 270102 ПГС и 280402 ПООТ /
Калм.ун –т. Сост. доц. Очиров В.А., доц. Сангаджиев М.М. – Элиста,
2011г.
В работе приведены основные свойства кристаллов, тип симметрии и
разновидности кристаллических решеток.
Методические разработки предназначены для студентов специальностей
010701 «Физика», 270102 ПГС и 280402 ПООТ.
Утверждено учебно – методической комиссией факультета математики,
физики и информационных технологий.
Рецензент: кандидат физики – математических наук Бисенгалиев
Р.А.
Стр.2