Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634757)
Контекстум
.

Физические основы микро- и нанотехнологий (160,00 руб.)

0   0
АвторыБычков С. П., Михайлов В. П., Панфилов Ю. В., Цветков Ю. Б., Цветков Ю. Б.
ИздательствоМ.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана
Страниц175
ID287796
АннотацияДаны краткие сведения из отдельных разделов физики и смежных наук, составляющих физические основы микро- и нанотехнологий. Рассмотрены основные законы, понятия и определения физических явлений, процессов и сред, являющихся основой этих технологий. Приведены методы преобразования фундаментальных физических законов в прикладные технологические зависимости, расчеты физических закономерностей, определяющих параметры процессов микро- и нанотехнологий.
Кому рекомендованоДля студентов 3-го и 4-го курсов, обучающихся по специальности «Электронное машиностроение».
ISBN978-5-7038-3319-3
УДК621.384-022.532(075.8)
ББК32.85
Физические основы микро- и нанотехнологий : учеб. пособие / С.П. Бычков, В.П. Михайлов, Ю.В. Панфилов, Ю.Б. Цветков; ред. Ю.Б. Цветков .— Москва : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009 .— 175 с. : ил. — ISBN 978-5-7038-3319-3 .— URL: https://rucont.ru/efd/287796 (дата обращения: 25.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Приведены методы преобразования фундаментальных физических законов в прикладные технологические зависимости, расчеты физических закономерностей, определяющих параметры процессов микро- и нанотехнологий. <...> Первая глава посвящена физике вакуума — уникальной технологической среды для реализации микро- и нанотехнологий. <...> Третья глава дает представление о методах и средствах формирования электронных, ионных, атомарных и молекулярных потоков, а в четвертой главе рассмотрено их использование как инструмента микро- и нанотехнологий. <...> Шестая глава посвящена анализу ключевых параметров оптического излучения и оптических процессов формирования микроизображения применительно к использованию в микролитографии. <...> В седьмой главе даны сведения о методах оценки качества проекционных микроизображений и основные положения фурьепреобразований в оптике для оценки качества микроизображений в проекционной микролитографии. <...> Студент должен знать: • основные законы, понятия и определения физических явлений, процессов и сред, являющихся основой микро- и нанотехнологий; 3 • методы преобразования фундаментальных физических законов в прикладные технологические зависимости. <...> Первый этап микротехнологий реализуется методами элионных технологий, позволяющих с помощью электронных, ионных, атомарных и молекулярных потоков создавать на поверхности заготовок проводящие и диэлектрические слои толщиной от нескольких нанометров до единиц микрометров. <...> На втором этапе используется микролитография, которая позволяет локализовать зоны воздействия на заготовку. <...> Для этого на ее поверхность наносится тонкая чувствительная к актиничному излучению полимерная пленка (фоторезист), которая затем экспонируется через шаблон с требуемым рисунком (топологией). <...> При последующем проявлении происходит локальное удаление участков фоторезиста, образуются окна требуемых размеров и формы, через которые возможен доступ <...>
Физические_основы_микро-_и_нанотехнологий.pdf
УДК 621.384-022.532(075.8) ББК 32.85 Ф505 Реце нзе нты: д-р техн. наук, проф. А.М. Медведев, д-р техн. наук, проф. В.В. Слепцов, д-р техн. наук, проф. С.Б. Нестеров, д-р техн. наук, проф. В.А. Шахнов Физические основы микро- и нанотехнологий: Учеб. поФ505 собие / С.П. Бычков, В.П. Михайлов, Ю.В. Панфилов, Ю.Б. Цветков; Под ред. Ю.Б. Цветкова. — М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009. — 176 с.: ил. ISBN 978-5-7038-3319-3 Даны краткие сведения из отдельных разделов физики и смежных наук, составляющих физические основы микро- и нанотехнологий. Рассмотрены основные законы, понятия и определения физических явлений, процессов и сред, являющихся основой этих технологий. Приведены методы преобразования фундаментальных физических законов в прикладные технологические зависимости, расчеты физических закономерностей, определяющих параметры процессов микро- и нанотехнологий. Для студентов 3-го и 4-го курсов, обучающихся по специальности «Электронное машиностроение». УДК 621.384-022.532(075.8) ББК 32.85 ISBN 978-5-7038-3319-3 2 © МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009
Стр.1
ОГЛАВЛЕНИЕ Предисловие.................................................................................................3 Введение.......................................................................................................5 1. Вакуум — рабочая среда для микро- и нанотехнологий......................8 1.1. Основные положения физики вакуума .............................................8 1.2. Физические процессы при вакуумной откачке ...............................17 Контрольные вопросы и задания ...........................................................26 2. Теплопередача........................................................................................27 2.1. Теплопередача теплопроводностью................................................30 2.2. Теплообмен излучением..................................................................37 2.3. Теория теплопередачи и ее использование для анализа физических процессов различной природы ....................................61 Контрольные вопросы и задания ...........................................................63 3. Формирование потоков частиц ..............................................................64 3.1. Формирование электронных потоков..............................................66 3.2. Формирование ионных потоков ......................................................69 3.3. Формирование атомарных и молекулярных потоков .....................71 Контрольные вопросы и задания ...........................................................75 4. Взаимодействие потоков частиц с материалами..................................75 4.1. Взаимодействие электронных и ионных потоков с материалами ..76 4.2. Взаимодействие ионных потоков с материалами...........................84 Контрольные вопросы и задания ...........................................................94 5. Формирование газоразрядной плазмы и ее взаимодействие с материалами........................................................................................94 5.1. Параметры газоразрядной плазмы..................................................96 5.2. Кривые Пашена ...............................................................................98 5.3. Высокочастотная плазма ...............................................................100 Контрольные вопросы и задания .........................................................101 6. Формирование оптического излучения ...............................................101 6.1. Формирование микрорельефа в резисте........................................102 6.2. Системы экспонирования..............................................................103 174
Стр.173
6.3. Основы теории формирования микроизображений......................109 6.4. Скалярная теория дифракции........................................................115 Контрольные вопросы и задания .........................................................134 7. Проекционное формирование микроизображений.............................134 7.1. Качество проекционного изображения .........................................135 7.2. Понятие изображающей системы..................................................137 7.3. Связь между объектом и изображением .......................................138 7.4. Свертка ..........................................................................................140 7.5. Фурье-преобразования в оптике....................................................144 7.6. Оптическая передаточная функция...............................................151 7.7. Зрачковая функция и ее связь с оптической передаточной функцией........................................................................................156 7.8. Связь комплексной амплитуды изображения со зрачковой функцией........................................................................................158 7.9. Оптическая передаточная функция как автокорреляция зрачковой функции ........................................................................161 7.10. Системы дифракционного качества с постоянным пропусканием по площади зрачка.................................................165 7.11. Учет распределения интенсивности в изображении...................168 Контрольные вопросы и задания .........................................................170 Список рекомендуемой литературы........................................................172 175
Стр.174

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.