РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ ДВУХСЛОЙНЫХ ПОЛЫХ ЧАСТИЦ TiO2/ SiO2 ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ПРОТОНАМИ (726,00 руб.)

Первый автор	Моревa
Авторы	Верхотуроваa И.В., Нещименкоa В.В.
Страниц	9

ID	959721
Аннотация	Проведен сравнительный анализ спектров диффузного отражения и их изменений после облучения протонами с энергией 100 кэВ двухслойных полых частиц TiO2/ SiO2. Установлено, что интенсивность полос наведенного поглощения в полых частицах TiO2/ SiO2 меньше, чем в микрочастицах TiO2. Эффект увеличения радиационной стойкости двухслойных полых частиц TiO2/ SiO2 может быть обусловлен: высокой удельной поверхностью частиц, которая является стоком радиационных дефектов; наличием защитного аморфного слоя SiO2 на поверхности микросфер TiO2, которые приводят к уменьшению концентрации центров поглощения в TiO2, обуславливающих поглощение в видимом диапазоне спектра.

Моревa, Н.Г. РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ ДВУХСЛОЙНЫХ ПОЛЫХ ЧАСТИЦ TiO2/ SiO2 ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ПРОТОНАМИ / Н.Г. Моревa, И.В. Верхотуроваa, В.В. Нещименкоa // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования .— 2026 .— №3 .— С. 42-50 .— URL: https://rucont.ru/efd/959721 (дата обращения: 13.08.2026)