Уменьшение систематической ошибки считывания оптических кубитов на ионах 171Yb + с использованием микроволновой накачки (726,00 руб.)

Первый автор	Аносов
Авторы	Борисенко А.С., Заливако И.В., Семенин Н.В., Семериков И.А., Хабарова К.Ю., Колачевский Н.Н.
Страниц	7

ID	959536
Аннотация	В данной работе экспериментально продемонстрировано повышение достоверности считывания оптического кубита в ионе 171Yb+ за счет добавления перед измерением этапа микроволновой накачки. Добавление микроволнового π- импульса между сверхтонкими компонентами основного состояния иона перед считыванием позволяет избежать фазы оптической накачки в начале измерения, которая приводит к возникновению систематической ошибки определения состояния. В работе были экспериментально подтверждены выводы теоретической модели процесса считывания и продемонстрировано улучшение точности считывания с 98. 98 ± 0. 10 % до 99. 48 ± 0. 07 % . DOI: 10. 7868/ S3034576626040092

Уменьшение систематической ошибки считывания оптических кубитов на ионах 171Yb + с использованием микроволновой накачки / Ю.П. Аносов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики .— 2026 .— №7 .— С. 499-505 .— URL: https://rucont.ru/efd/959536 (дата обращения: 13.08.2026)