ПРОВЕРКА ЗАКОНА КВАНТОВАНИЯ ЗАРЯДА С ПОМОЩЬЮ СКАНИРУЮЩЕЙ КЕЛЬВИН- ЗОНД МИКРОСКОПИИ (726,00 руб.)

Первый автор	Анкудиновa
Авторы	Власовa А.С., Дунаевскийa М.С., Аксеновa В.Ю., Илькивb И.В., Малевскаяa А.В., Родинa В.Д., Щенинa А.С., Эполетовa В.С., Минтаировa А.М.
Страниц	8

ID	955669
Аннотация	Используя сканирующую Кельвин- зонд микроскопию, в обычных условиях обнаружены мерцания электрического потенциала Au- наночастичек, уединенных на поверхности SiO2. Показано, что мерцания отражают тепловые флуктуации потенциала наночастичек, связанные с одноэлектронными скачками заряда на них. Рассмотрены способ проверки закона квантования заряда при комнатной температуре, а также возможность создания источника калиброванного потенциала нанометровых размеров для тестирования метода сканирующей Кельвин- зонд микроскопии.

ПРОВЕРКА ЗАКОНА КВАНТОВАНИЯ ЗАРЯДА С ПОМОЩЬЮ СКАНИРУЮЩЕЙ КЕЛЬВИН- ЗОНД МИКРОСКОПИИ / А.В. Анкудиновa [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования .— 2026 .— №2 .— С. 99-106 .— URL: https://rucont.ru/efd/955669 (дата обращения: 08.08.2026)