Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 552324)
Консорциум Контекстум Информационная технология сбора цифрового контента
Уважаемые СТУДЕНТЫ и СОТРУДНИКИ ВУЗов, использующие нашу ЭБС. Рекомендуем использовать новую версию сайта.
Информационно-управляющие системы  / №3 2017

АНАЛИЗ ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ И СЛОЖНОСТИ РЕАЛИЗАЦИИ РАЗЛИЧНЫХ ВАРИАНТОВ СТРУКТУР АВТОМАТА С ПАМЯТЬЮ ПРИ ПОТОКЕ МЯГКИХ ОТКАЗОВ (160,00 руб.)

0   0
Первый авторЕгоров И. В.
АвторыМелехин В. Ф.
Страниц13
ID633483
АннотацияПостановка проблемы: снижение проектной нормы в производстве полупроводниковых структур повышает чувствительность вычислительной техники к попаданию частиц высоких энергий (в частности, при работе в условиях радиации). Основное их влияние выражается в возникновении “Мягких” отказов — искажений информации при сохранении работоспособности аппаратуры. Борьба с мягкими отказами требует разработки новых схемотехнических решений в системах со структурным резервированием, таких как конечные автоматы. Цель: оценка надежности и структурной сложности известных реализаций блоков с аппаратным резервированием при потоке мягких (информационных) отказов. Результаты: анализ различных реализаций блоков типа автомат Мурасо структурным резервированием при потоке мягких отказов показал. что структурное резервирование памяти состояний автомата и внедрение механизмов самовосстановления данных в памяти позволяет качественно повысить продолжительность безотказной работы без увеличения сложности реализации по сравнению с невосстанавливаемыми структурами. Это объясняется тем. что в случае мягкого отказа элемент памяти остается работоспособным, и корректное состояние системы может быть полностью восстановлено путем перезаписи поврежденного бита по окончании периода восстановления. Невосстанавливаемый отказ происходит только в том случае. если в течение периода восстановления одновременно в нескольких экземплярах резервированного элемента памяти произошло искажение данных. Если при проектировании системы удается обеспечить достаточно малый период восстановления, то возникновение этого события становится крайне маловероятным, что дает возможность многократно увеличить время безотказной работы устройства. Практическая значимость: полученные результаты позволяют определить направление разработки схемотехнических решений для конечного автомата. устойчивого к мягким отказам: блокирование распространения отказа в памяти состояний, периодическое восстановление искаженных бит памяти состояний и внедрение аппаратных средств для регистрации произошедших отказов.
АНАЛИЗ ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ И СЛОЖНОСТИ РЕАЛИЗАЦИИ РАЗЛИЧНЫХ ВАРИАНТОВ СТРУКТУР АВТОМАТА С ПАМЯТЬЮ ПРИ ПОТОКЕ МЯГКИХ ОТКАЗОВ [Электронный ресурс] / И.В. Егоров, В.Ф. Мелехин // Информационно-управляющие системы .— 2017 .— №3 .— Режим доступа: https://rucont.ru/efd/633483

Предпросмотр (выдержки из произведения)

В работе [1] рассмотрены общие концептуальные представления о восстанавливаемых системах, подверженных потоку мягких отказов, и подходы к функционально-логическому проектированию подобных систем; определен ряд вопросов, требующих отдельного исследования. <...> Один из таких вопросов — это изучение влияния на надежность блока, соответствующего автомату с памятью, ложных импульсов, возникающих при действии радиации, в комбинационных схемах и в триггерах автомата, а также обоснование требований к функциональной организации таких блоков со структурным резер34 ИНФОРМАЦИОННОУПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ   вированием и периодическим восстановлением экземпляров с мягким отказом. <...> Для обоснования наиболее целесообразного способа введения структурной избыточности проводится анализ распространения ложных сигналов, вызванных воздействием частиц высокой энергии на полупроводниковую структуру транзистора, по схеме автомата с резервированием и мажорированием. <...> В работах [2, 3] рассмотрены процессы возникновения мягких отказов под действием радиации в логических элементах и триггерах. <...> Установлена функциональная связь эффектов в полупроводниковых структурах транзисторов от попадания частиц высокой энергии с возникновением мягких отказов в цифровом устройстве. <...> Полученные зависимости [3] являются базой для установления функциональных зависимостей между потоком событий в виде ложных импульсов на выходе вентиля (логического элемента) и характеристиками потока мягких отказов в автомате. <...> Это выполнено в на№ 3, 2017 ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ стоящей работе. <...> Полученные зависимости используются для сравнительного анализа вариантов структур автоматов со структурной избыточностью. <...> При этом в качестве определяющих для принятия решения <...>