УДК 621.385.833 КООРДИНАТНАЯ ПРИВЯЗКА СТМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ НАНОЧАСТИЦ С ФИЛЬТРАЦИЕЙ ОСОБЫХ ТОЧЕК ГУЛЯЕВ П. В., ШЕЛКОВНИКОВ E. <...> В статье описано применение метода статистической дифференциации для выделения особых точек изображения. <...> Установлено, что обработка изображений и последующая фильтрация результатов позволяет повысить точность определения взаимного смещения изображений. <...> Приведены результаты испытаний данного метода, а также рекомендации по его применению. <...> КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА: нанообъекты, особые точки, координатная привязка, сканирующий туннельный микроскоп, сдвиг изображений, гистограмма. <...> При работе с высокими разрешениями поле зрения сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) достаточно ограничено, поэтому исследования поверхностей с площадями, превышающими поле зрения, целесообразно осуществлять посредством получения перекрывающихся изображений [1]. <...> Это позволяет выполнять координатную привязку наночастиц к единой системе координат посредством вычисления параметров взаимной ориентации изображений (смещение, угол поворота). <...> В ряде случаев это является единственным методом осуществления координатной привязки частиц, поскольку датчики не всегда позволяют отслеживать температурные дрейфы конструкции и частиц, гистерезис пьезокерамики, погрешности приводов позиционирования и датчиков перемещений. <...> В сканирующем туннельном микроскопе применяется метод статистической дифференциации изображений [1], в котором параметры ориентации вычисляются по равным по длине парам особых точек. <...> Результаты обработки всех пар формируются в виде гистограмм. <...> Гистограмма смещения изображений представляет собой двумерный массив, размерность которого равна удвоенному размеру изображений в пикселях, а гистограмма поворота – одномерный массив, индексы которого соответствуют углам поворота пар от -90º до 90º. <...> Для выделения особых точек вычисляется коэффициент корреляции между участком анализируемого <...>