Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 636199)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Датчики и системы. Sensors & Systems  / №1 (104) 2008

КОНТРОЛЬ И ДИАГНОСТИКА ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ И МИКРОСХЕМ ПОСРЕДСТВОМ АНАЛИЗА ИХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ (150,00 руб.)

0   0
Первый авторКасаткин
АвторыВасильева Н.П., Муравьев А.М., Плотникова Н.В.
Страниц7
ID601036
АннотацияПриведен обзор работ, посвященных методам диагностирования печатных плат и микросхем, и, в частности, описан метод, основанный на восприятии микродатчиками близлежащих к поверхности магнитных полей, создаваемых работающими печатной платой или микросхемой, и последующем математическом анализе полученного двумерного изображения этого магнитного поля. Математическими методами исследуются различия в изображении магнитного поля эталонного и исследуемого изделия, выявляются отказы в изделиях, их вид и местоположение. Описаны выпускаемые в мире установки контроля и диагностики печатных плат и микросхем Рассмотрены применяемые в подобных установках современные микродатчики магнитного поля.
УДК53.082.9
КОНТРОЛЬ И ДИАГНОСТИКА ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ И МИКРОСХЕМ ПОСРЕДСТВОМ АНАЛИЗА ИХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ / С.И. Касаткин [и др.] // Датчики и системы. Sensors & Systems .— 2008 .— №1 (104) .— С. 49-55 .— URL: https://rucont.ru/efd/601036 (дата обращения: 19.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

В. Ю. Кнеллеp УДК 53.082.9 КОНТРОЛЬ И ДИАГНОСТИКА ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ И МИКРОСХЕМ ПОСРЕДСТВОМ АНАЛИЗА ИХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ С. И. <...> Касаткин, Н. П. Васильева, А. М. Муравьев, Н. В. Плотникова Приведен обзор работ, посвященных методам диагностирования печатных плат и микросхем, и, в частности, описан метод, основанный на восприятии микродатчиками близлежащих к поверхности магнитных полей, создаваемых работающими печатной платой или микросхемой, и последующем математическом анализе полученного двумерного изображения этого магнитного поля. <...> Математическими методами исследуются различия в изображении магнитного поля эталонного и исследуемого изделия, выявляются отказы в изделиях, их вид и местоположение. <...> Описаны выпускаемые в мире установки контроля и диагностики печатных плат и микросхем. <...> Рассмотрены применяемые в подобных установках современные микродатчики магнитного поля. <...> ВВЕДЕНИЕ Испытания электронных систем становятся все более трудоемкими по мере того, как печатные платы и микросхемы усложняются и миниатюризируются. <...> При производстве этих изделий необходимо использовать эффективные методы тестирования и современное диагностическое оборудование. <...> МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ Широко используемые в настоящее время четыре метода обнаружения дефектов и неисправностей печатных плат можно разделить на две группы: неэлектрические (оптический и рентгеноскопический контроль) и электрические (внутрисхемное и функциональное тестирование) [1]. <...> Оптический контроль качества печатных плат в мелкосерийном производстве осуществляется визуальным способом с использованием оптических методов. <...> Такие установки позволяют обнаружить отсутствие электрических и конструкционных компонентов, деформацию их выводов, неправильную маркировку, обрывы проводников и паразитные перемычки, непропаянные соединения и т. д. <...> Однако функциональное тестирование не позволяет локализовать дефекты и неисправности печатных плат. <...> Кроме <...>