Николай Николаевич Самотаев — канд. техн. наук, кафедра Микро- и наноэлектроники, Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ” (НИЯУ “МИФИ”); Е-mail: samotaev@mail.ru (495) 585-82-73 Борис Иванович Подлепецкий — канд. техн. наук, доцент кафедры Микро- и наноэлектроники, НИЯУ “МИФИ”; Е-mail: bobpod@list.ru (495) 324-01-84 Алексей Андреевич Васильев — д-р техн. наук, вед. научн. сотрудник РНЦ Курчатовский институт, Институт прикладной химической физики (ИПХФ); Е-mail: A-A-Vasiliev@yandex.ru (499) 196-95-94 Александр Викторович Писляков — канд. техн. наук, РНЦ Курчатовский институт, ИПХФ; (499) 196-95-94 Андрей Владимирович Соколов — РНЦ Курчатовский институт, ИПХФ. <...> Е-mail: sok44@mail.ru (499) 196-95-94 УДК 681.586:681.518:621.3.049.77 К содержанию ИНТЕРФЕЙСНЫЙ SPI-МОДУЛЬ ДЛЯ УСТРОЙСТВ ПЕРВИЧНОЙ ОБРАБОТКИ В ВИДЕ “СИСТЕМ НА КРИСТАЛЛЕ”1 И. И. Шагурин, В. М. Тарнавский Описана структура и функционирование интерфейсного модуля, обеспечивающего в контрольно-измерительных системах связь датчиков и первичных преобразователей с управляющим микроконтроллером или микропроцессором. <...> Разработанный модуль реализует широко распространенный интерфейс SPI и представляет собой синтезируемый сложно-функциональный блок, который может быть использован в составе контрольно-измерительных устройств, разрабатываемых в виде “систем на кристалле”. <...> Ключевые слова: датчик, контрольно-измерительная система, система на кристалле, интерфейсный модуль, последовательный периферийный интерфейс, SPI. <...> В современных контрольноизмерительных устройствах и системах применяются разнообразные датчики, использующие различные формы представления выходной информации: аналоговую, цифровую, импульсную и другие. <...> Обслуживание датчиков выполняется с помощью специализированных устройств, осуществляющих первичную обработку и преобразование информации, а также обеспечивающих необходимый контроль режима функционирования дат1 Статья подготовлена по материалам работ, выполненных по государственному <...>