E-mail: polohov@zmail.ru УДК 681.7:535.36 МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИЙ И УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРОКОГО НАБОРА ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ И. М. <...> Хмаров, Н. Г. Кондрашов Представлена многофункциональная измерительная установка для определения широкого набора оптических характеристик образцов материалов с обеспечением синтеза и занесения в базу данных параметрической модели рассеяния материала (покрытия). <...> При мониторинге и анализе отражательных характеристик различных объектов [1, 2] необходима информация об оптических характеристиках материалов их внешних покрытий (ВП). <...> Наиболее часто на практике используются такие характеристики, как спектральный направленно-полусферический коэффициент отражения ρ, спектральный коэффициент диффузного отражения ρd, коэффициент зеркального отражения Rr, степень когерентности |γ12| зеркальной составляющей; двунаправленный коэффициент яркости β, удельная эквивалентная площадь рассеяния (УЭПР) σ0, функция распределения двунаправленной отражательной способности BRDF [1, 3—8]. <...> Известные установки по измерению характеристик материалов содержат: гониометрический стенд [1, 3—5, 7, 8] для исследования индикатрис рассеяния электромагнитных волн образцами материалов и эталонами, профилограф [1, 8], измеряющий параметры профиля шероховатой поверхности образцов ВП, а также спектрофотометры для исследования спектральных коэффициентов отражения и пропускания образцов материалов. <...> Характерной особенностью этих установок являются существенные ограничения по номенклатуре измеряемых характеристик ВП. <...> Описанная ниже установка “Луч” обеспечивает исследование широкого набора оптических характеристик плоских образцов ВП материалов с возможностью исследования температурных зависимостей оптических характеристик ВП с проводящей подложкой. <...> В состав установки “Луч” входят: профилограф, спектрофотометры: ФМ-85, Shimadzu UV 3600, Prestige IR-21 и многофункциональный <...>