К содержанию УДК 53.082 АМР ГОЛОВКА-ГРАДИОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ ПО СОЗДАВАЕМОМУ ИМИ МАГНИТНОМУ ПОЛЮ1 С. И. Касаткин, А. М. Муравьев, Н. В. Плотникова, В. В. Амеличев, Д. В. Костюк Рассмотрены результаты исследований разработанной и изготовленной анизотропной магниторезистивной головки-градиометра для измерения приповерхностных магнитных полей для контроля функционирования электронных компонент по создаваемому ими магнитному полю. <...> ВВЕДЕНИЕ В настоящее время для обнаружения дефектов и неисправностей изделий электронной промышленности наиболее широко применяются методы оптического и рентгеновского контроля, а также электрические методы (внутрисхемное и функциональное тестирование) [1]. <...> Оптический контроль позволяет выявить в первую очередь отсутствие электрических и конструкционных компонентов, деформацию их выводов, неправильную маркировку, обрывы проводников и паразитные перемычки, непропаянные соединения и т. д. <...> Из недостатков оптического контроля можно отметить его неспособность обнаружить дефекты изделия в сборе. <...> Функциональное тестирование применяется после оптического контроля, однако, оно не позволяет локализовать дефекты. <...> Внутрисхемное тестирование позволяет обнаружить отсутствующие, неправильно установленные или дефектные компоненты, обрывы проводников, паразитные перемычки и т. д. <...> . Сейчас для тестирования электронных компонент распространение получают устройства, измеряющие магнитное поле, создаваемое работающей печатной платой или микросхемой [1, 3]. <...> Для его измерения используются магниторезистивные (МР) преобразователи магнитного поля [4]. <...> При этом возникают задачи определения работоспособности изделия и, в частности, местоположения дефекта в проводнике по создаваемому им маг1 Работа выполнена при финансовой поддержке государственного контракта Минобрнауки России № 16.426.11.0033. нитному полю, а также создания МР-преобразователя магнитного поля для измерения <...>