Из проведенных исследований следует, что применение достаточно толстой оптически прозрачной пленки, увеличивающей число интерференционных порядков, является эффективным способом подавления интерференции. <...> Однако следует отметить сложность самой операции нанесения пленки на поверхность ФПЗС и меньшую защищенность от механических воздействий модифицированного приемника с удаленным защитным стеклом. <...> +7-921-338-50-22 Е-mail: aauhov@yandex.ru УДК 621.317.757 СПЕКТРОСКОПИЯ НИЗКОЧАСТОТНЫХ ШУМОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ1 Т. А. Холомина, С. А. Кострюков, В. Г. Литвинов, А. В. Ермачихин Рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных (НЧ) шумов полупроводниковых диодных структур (диодов Шоттки, полупроводниковых датчиков и т. д.), приведены конструктивно-методологические особенности автоматизированной установки для измерения и исследования НЧ-шумов в полупроводниковых приборах и структурах. <...> Ключевые слова: спектроскопия низкочастотных шумов, полупроводниковые приборы, датчики, спектральная плотность мощности. <...> Шумовые характеристики электронных компонентов радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) в области низких частот позволяют достоверно оценить их потенциальную надежность и предвидеть отказ электронного компонента на любом этапе его эксплуатации [1]. <...> Кроме того, уровень шума определяет нижний предел чувствительности датчиков, уровень минимальных сигналов в элементах и компонентах РЭА. <...> 1 Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ с использованием оборудования Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования при Рязанском государственном радиотехническом университете. <...> Методы контроля и анализа полупроводниковых приборов, структур и систем, базирующиеся на измерении параметров шумового сигнала, активно развиваются в последние десятилетия с использованием вычислительной техники и технологий виртуальных инструментов [2]. <...> Целью <...>