122–133 ИСТОЧНИКИ ПЛАЗМЫ И ИОНОВ УДК 537.533;537.534;519.6 О ГРАНИЧНЫХ УСЛОВИЯХ НА ПОВЕРХНОСТИ ПЛАЗМЕННОГО ЭМИТТЕРА ПРИ НАЛИЧИИ ВСТРЕЧНОГО ПОТОКА ЧАСТИЦ I. <...> ЭМИТТЕР ИОНОВ © 2017 г. В. Т. Астрелин*, И. А. Котельников Институт ядерной физики им. <...> Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия Новосибирский государственный университет, Россия e-mail: *V.T.Astrelin@inp.nsk.su Поступила в редакцию 04.05.2016 г. Представлены результаты теоретического изучения эмиссии положительно заряженных ионов из плазменного эмиттера, который облучается встречным пучком электронов. <...> В одномерном приближении выполнен расчет биполярного диода с плазменным эмиттером, в котором температура ионов мала по сравнению с температурой электронов, а встречный поток электронов вытягивается с коллектора ионов. <...> Найден аналог критерия Бома для эмиссии ионов в присутствии встречного электронного пучка. <...> Вычислена предельная плотность встречного пучка в биполярном диоде, который работает в режиме ограничения эмиссии пространственным зарядом. <...> Сформулирован полный набор граничных условий на поверхности плазменного эмиттера, необходимый для работы модуля сильноточной оптики в численных кодах, которые применяются для моделирования источников заряженных частиц. <...> ВВЕДЕНИЕ При численном моделировании источников пучков заряженных частиц на поверхности эмиттера требуются два граничных условия. <...> Второе условие задает плотность эмиссионного тока либо величину электрического поля, если диод работает в режиме ограничения эмиссии пространственным зарядом в диодном зазоре. <...> Такая постановка задачи подходит также для источников с плазменным эмиттером, причем в теории плазменных эмиттеров [1–3] обычно рассматривается эмиссия с поверхности плазмы какого-либо одного сорта частиц (либо ионов, либо электронов) с их последующим ускорением в униполярном слое. <...> Встречные потоки частиц из вторичной плазмы, проникая в источник пучка, могут существенно влиять на его работу, искажая <...>