УДК 621.315.612.621.7.055 ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЙ КОНТРОЛЬ КЕРАМИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ OPTOELECTRONIC INSPECTION OF CERAMIC PARTS Завьялов Петр Сергеевич канд. техн. наук, зав. лабораторией E-mail: zavyalov@tdisie.nsc.ru Финогенов Леонид Валентинович канд. техн. наук, ст. научн. сотрудник Жимулева Елена Сергеевна мл. научн. сотрудник Хакимов Дмитрий Радионович инженер Савинов Константин Игоревич инженер Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск Аннотация: Представлены разработанные и внедренные в производство системы для контроля геометрических параметров изделий из технической керамики: керамических колец, высоковольтных изоляторов, бронепластин и бронероликов. <...> Ключевые слова: техническая керамика, размерный контроль, теневой метод, метод структурного освещения, керамическая броня. <...> Зачастую керамические изделия изготавливаются с высокой точностью с допусками порядка десятых и сотых долей миллиметра [2]. <...> Ввиду технологических свойств материала такие детали подвергаются 100 % размерному контролю, как правило, контактными средствами. <...> Кроме того, контактные средства обладают такими недостатками, как низкая производительность и информативность контроля, воздействие на объект (царапины, сколы, натиры и т. п.), субъективный (“человеческий”) фактор. <...> Таким образом, задача бесконтактного размерного контроля керамических изделий является весьма актуальной. <...> Для решения поставленной задачи в интересах отечественных предприятий в КТИ НП СО РАН был разработан ряд оптико64 Sensors & Systems · ¹ 8-9.2016 Zavyalov Peter S. Ph. <...> Keywords: technical ceramics, dimensional inspection, shadow method, structured light method, ceramic armor. электронных систем для бесконтактного контроля размеров изделий из керамики: керамических колец, высоковольтных изоляторов, бронепластин и бронероликов. <...> Размерный контроль осуществляется теневым методом и методом структурного освещения. <...> Также реализована задача обнаружения поверхностных дефектов посредством обработки полученных изображений <...>