Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635254)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Труды РФЯЦ-ВНИИЭФ  / №20 часть 2 2015

ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, СФОКУСИРОВАННОГО ИОННОГО ПУЧКА И РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ДЛЯ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ПРИКЛАДНОГО МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ (ОБЗОР) (100,00 руб.)

0   0
Первый авторМокрушин
АвторыЦарева И.А., Царев М.В., Забавин Е.В., Баикин Р.М.
Страниц20
ID558257
АннотацияРассмотрены некоторые примеры решения задач прикладного материаловедения с использованием методов электронной микроскопии, фокусированного ионного пучка и рентгеновского спектрального микроанализа. Среди них исследование сплошности покрытий и однородности порошковых смесевых композиций на основе фрактальных представлений о структуре и химическом составе, контроль качества сварных соединений, калибровка размеров микрообъектов и изучение состояния микрокристаллов β-октогена после ударно-волновых и динамических воздействий. Показано, что современная электронная микроскопия, дополненная аналитическими опциями и средствами модификации поверхности, является весьма эффективным, а иногда и единственным надежным инструментом в прикладном материаловедении
УДК54.063, 54.07
ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, СФОКУСИРОВАННОГО ИОННОГО ПУЧКА И РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ДЛЯ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ПРИКЛАДНОГО МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ (ОБЗОР) / В.В. Мокрушин [и др.] // Труды РФЯЦ-ВНИИЭФ .— 2015 .— №20 часть 2 .— С. 149-168 .— URL: https://rucont.ru/efd/558257 (дата обращения: 14.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ УДК 54.063, 54.07 Применение сканирующей электронной микроскопии, сфокусированного ионного пучка и рентгеновского спектрального микроанализа для решения задач прикладного материаловедения (обзор) В. В. Мокрушин, И. А. Царева, М. В. Царев, Е. В. Забавин, Р. М. Баикин Введение Прикладное1 материаловедение в науке, технике и технологии относится к разряду диагностических исследований в том смысле, что оно призвано изучать свойства материалов с целью выяснения причин и особенностей их поведения в различных ситуациях, связанных с функциональным назначением. <...> Роль современных средств и методов диагностики материалов, к которым в полной мере относится комплекс электронной микроскопии и анализа, в нашем случае со1* Сборник тезисов докладов XXIV конференции по электронной микроскопии (29 мая – 1 июня 2012 г.). <...> 622 Рассмотрены некоторые примеры решения задач прикладного материаловедения с использованием методов электронной микроскопии, фокусированного ионного пучка и рентгеновского спектрального микроанализа. <...> Среди них исследование сплошности покрытий и однородности порошковых смесевых композиций на основе фрактальных представлений о структуре и химическом составе, контроль качества сварных соединений, калибровка размеров микрообъектов и изучение состояния микрокристаллов -октогена после ударно-волновых и динамических воздействий. <...> Показано, что современная электронная микроскопия, дополненная аналитическими опциями и средствами модификации поверхности, является весьма эффективным, а иногда и единственным надежным инструментом в прикладном материаловедении. <...> ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ… четающий в себе функции сканирующей электронной микроскопии (ЭМ), фокусированного ионного пучка (ФИП) и рентгеновского спектрального микроанализа (РСМА), переоценить невозможно, так как именно химический состав и структура, доступные к исследованию с их помощью, определяют <...>