Светлов, М. Ю. Паршуков, В. В. Комаров, Е. В. Сапунов МЕТОДИКИ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ ОПЕРАЦИОННЫХ УСИЛИТЕЛЕЙ А. В. <...> Светлов, М. Ю. Паршуков, В. В. Комаров, Е. В. Сапунов Введение Параметры узлов и изделий радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), а также ее надежность во многом определяются качеством используемых полупроводниковых элементов. <...> Затраты на выявление и замену элементов, не соответствующих техническим требованиям, многократно возрастают при обнаружении отказа на каждой последующей стадии производства РЭА (входной контроль – установка элементов и монтаж плат – испытания – эксплуатация). <...> Поэтому технический контроль элементов необходимо проводить на самом раннем этапе производства – на входном контроле. <...> Задачей входного контроля комплектующих полупроводниковых элементов является не только определение их соответствия требованиям технических условий, но и рассортировка элементов на группы по измеренным значениям параметров и отбор комплектующих для наиболее критичных применений. <...> Важнейшими элементами современной аналоговой электронной техники являются интегральные операционные усилители (ОУ). <...> Проблема повышения производительности и достоверности входного контроля ОУ является актуальной. <...> Систематизация методик входного контроля ОУ Методы измерений статических и динамических параметров ОУ регламентированы в 17 нормативных документах (ГОСТ 23089.1-83 – 23089.17-83). <...> Практическая реализация этих методов с использованием комплекта отдельных измерительных приборов (генераторов сигналов, вольтметров, осциллографов) требует больших затрат времени на коммутацию, настройку приборов и считывание их показаний. <...> Такой подход применим только для выборочного исследования отдельных экземпляров микросхем. <...> Для массового входного контроля ОУ необходима разработка специализированных методик и средств, выбор которых определяется спецификой производимой продукции. <...> На предприятиях, производящих бытовую <...>