А. Н. Литвинов, О. Ш. Хади, Н. К. Юрков МОДЕЛИРОВАНИЕ НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ СЛОИСТЫХ СТРУКТУР РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ ПРИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ И ЭКСПЛУАТАЦИОННЫХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ Аннотация. <...> Математическое моделирование напряженно-деформационного состояния слоистых структур радиоэлектронных средств является весьма актуальной проблемой, которая позволяет на ранних этапах проектирования выявить наиболее нагруженные конструктивные элементы радиоэлектронных средств при технологических и экспериментальных воздействиях. <...> Целью работы является повышение надежности и обеспечение тактико-технических характеристик изделий конструкторско-технологическими способами. <...> Предложена классификация моделей, описывающих напряженно-деформированное состояние слоистых структур. <...> Моделирование состояния слоев структуры выполнено численными методами с использованием разработанного пакета прикладных программ. <...> Разработан комплекс моделирующих программ и выполнен численный анализ распределения термомеханических напряжений по поверхности многослойной платы микросборки при тепловом воздействии. <...> Определены зоны оптимального размещения тензорезистивных элементов на поверхности платы. <...> Проведенные численные исследования показали, что для обеспечения стабильности метрологических характеристик слоистых плат необходим обязательный контроль толщины клеевого шва, применение более мягких клеев и выбор оптимальных геометрических размеров плат для обеспечения более равномерного распределения термомеханических напряжений в зонах расположения тензорезистивных элементов. <...> Yurkov MODE OF DEFORMATION MODELING IN LAYERED STRUCTURES OF RADIO-ELECTRONIC MEANS AT TECHNOLOGICAL AND OPERATIONAL IMPACTS Abstract. <...> Mathematical modeling of the mode of deformation of the layered structures of radio-electronic means (REM) is a very important problem, which allows to identify at early design stages the most stressed structural elements of REM 1 Статья подготовлена в рамках реализации НИР «Создание методологических основ обнаружения и локализации латентных <...>