Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634558)
Контекстум
.
Вестник Воронежского государственного университета. Серия: Химия. Биология. Фармация  / №1 2009

АНАЛИЗ МИКРОРЕЛЬЕФА И ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИОНООБМЕНННЫХ МЕМБРАН МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ (90,00 руб.)

0   0
Первый авторЗайченко
АвторыВасильева В.И., Григорчук О.В., Гречкина М.В., Богатиков Е.В.
Страниц10
ID524181
АннотацияМетодом атомно-силовой микроскопии исследована морфология поверхности ионообменных мембран различной природы. Установлены различия в структуре, определены микропрофили и фактор шероховатости поверхности исходных коммерческих мембран, образцов после химического кондиционирования и подвергшихся эксплуатации при высокоинтенсивных токовых режимах
УДК541.183
АНАЛИЗ МИКРОРЕЛЬЕФА И ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИОНООБМЕНННЫХ МЕМБРАН МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ / Н.А. Зайченко [и др.] // Вестник Воронежского государственного университета. Серия: Химия. Биология. Фармация .— 2009 .— №1 .— С. 3-12 .— URL: https://rucont.ru/efd/524181 (дата обращения: 19.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

ХИМИЯ УДК 541.183 АНАЛИЗ МИКРОРЕЛЬЕФА И ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИОНООБМЕНННЫХ МЕМБРАН МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ Н. А. <...> Зайченко, В. И. Васильева, О. В. Григорчук, М. В. Гречкина, Е. В. Богатиков Воронежский государственный университет Поступила в редакцию 15.01.2009 г. Аннотация. <...> Методом атомно-силовой микроскопии исследована морфология поверхности ионообменных мембран различной природы. <...> Установлены различия в структуре, определены микропрофили и фактор шероховатости поверхности исходных коммерческих мембран, образцов после химического кондиционирования и подвергшихся эксплуатации при высокоинтенсивных токовых режимах. <...> ВВЕДЕНИЕ Ионообменные мембраны обладают неоднородной и шероховатой поверхностью, что влияет на их эксплуатационные электрохимические и массообменные характеристики [1—4]. <...> Шероховатость поверхности, т.е. совокупность неровностей, образующих микрорельеф поверхности c относительно малыми шагами, является причиной того, что истинная площадь поверхности выше, чем геометрическая. <...> Истинная площадь, отнесенная к геометрической площади поверхности, называется фактором шероховатости fr Для измерения истинной площади поверхности = S /Sg в электрохимии электродных систем известны достаточно корректные методы и подходы в случае жидких электродов, твердых поверхностей [6—12], порошкообразных электродных материалов [13— 15]. <...> Атомно-силовая микроскопия (АСМ) позволяет выявлять особенности геометрии поверхности материалов с нанометровым разрешением, © Зайченко Н. А., Васильева В. И., Григорчук О. В., Гречкина М. В., Богатиков Е. В., 2009 [5]. что важно при исследовании гомогенных мембран. <...> В существующих теоретических работах [20, 21], описывающих закономерности электродиффузного переноса ионов, используется модель гомогенной мембраны, в то время как реальные мембраны имеют неоднородную поверхность. <...> МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА ОБЪЕКТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ Объектами исследования были выбраны выпускаемые <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.
.