Естественные и технические науки, № 3, 2013 Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы Приборы и методы измерения Щурин К.В., доктор технических наук, декан, зав. кафедрой Николаев М.В., старший преподаватель Шевеленко В.Д., доктор технических наук, профессор Шипилов Д.Ю., аспирант (Оренбургский государственный университет) ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ДИРИХЛЕ КАК ИНСТРУМЕНТ РЕАЛИЗАЦИИ ФИЛЬТРУЮЩЕГО СВОЙСТВА ОРТОНОРМИРОВАННОГО БАЗИСА Проанализирована и показана возможность измерения амплитуды гармоник периодических сигналов путем вычитания из них равноамплитудных полиномов с изменяемой амплитудой на базе метода полиномиальной ортогонализации при использовании в качестве весовой функции ядра Дирихле. <...> Ключевые слова: фильтрация, спектральный метод, базис гармонических функций, базис в виде ядра Дирихле. <...> TRANSFORMATION OF DIRICHLET AS AN INSTRUMENT OF THE FILTER PROPERTIES OF THE ORTHONORMAL BASIS In the article was analyzed the possibility of measuring an amplitude of the periodic signal harmonics by subtracting from them equal for amplitudes polynomials with variable amplitude based on the method of polynomial orthogonalization when used as a weighting function of the Dirichlet kernel. <...> Keywords: filtering, spectral method, basis of harmonic functions, basis in the form of the Dirichlet kernel. <...> Типовая задача идентификации исследуемых технологических сигналов в виде случайных процессов сводится, как правило, к выполнению следующей последовательности операций: – обоснование и принятие допущения о стационарности и эргодичности случайного процесса; – выбор исследуемого фрагмента технологического сигнала; – фильтрация фрагмента сигнала в областях низких и (или) высоких частот для повышения его информативности применительно к исследуемой частной проблеме; – представление преобразовательного сигнала в цифровом виде с предварительным назначением оптимального интервала дискретизации; – гармонический анализ преобразованного дискретного сигнала и вычисление функции спектральной плотности; – исследование экстремумов спектральной плотности с целью идентификации и оптимизации <...>