5 С.А. МОИСЕЕВ АНАЛИЗ ПРОЦЕССА ОБРАЗОВАНИЯ СУММАРНОЙ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ТЕХНИЧЕСКОГО СОСТОЯНИЯ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ ИЗДЕЛИЙ Рассмотрена схема последовательного образования суммарной погрешности прогнозирования технического состояния радиоэлектронных изделий. <...> Произведен анализ влияния источников погрешности на ошибку прогноза на различных этапах решения задачи прогнозирования. <...> Для многих технических объектов непрерывный контроль осуществить невозможно, а при дискретном контроле каждая оценка их фактического состояния часто связана с существенными материальными затратами. <...> Наиболее перспективными в настоящее время являются методы определения оптимальных моментов контроля, основанные на наблюдении за информативными параметрами радиоэлектронных изделий, позволяющие предсказать момент наступления отказа конкретного изделия при его эксплуатации в заданных условиях и режимах. <...> Однако в сложных радиоэлектронных изделиях информативные параметры могут изменяться в диапазонах своих значений, поэтому для исключения ошибок предсказания задачу прогнозирования надёжности нужно решать с учетом дестабилизирующих факторов, которые в общем случае разделяют на четыре группы. <...> Факторы первой группы определяются несоответствием выбранной модели дрейфа параметра (оператора прогнозирования) реальной форме детерминированной составляющей прогнозируемого процесса. <...> Вместе с тем однозначных методических рекомендаций по выбору оператора прогнозирования к настоящему времени не разработано. <...> Наиболее верным показателем выбора может служить сравнительный анализ точности прогнозирования для одного и того же параметра изделия при использовании разных операторов. <...> Факторы второй группы обусловлены влиянием флуктуационного дрейфа параметров. <...> К ним относятся быстротекущие, но незначительные по величине обратимые изменения параметра, вызванные разными случайными воздействиями <...>