Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 635043)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Прикладная физика  / №4 2011

Многофункциональная система для производства элементов микроэлектроники и компьютерной электронно-лучевой оптики (10,00 руб.)

0   0
Первый авторВасин
АвторыВасичев Б.Н., Степанчиков С.В., Фатьянова Н.Г.
Страниц6
ID456389
АннотацияРассмотрены преимущества и различные возможности проектирования и разработки многофункционального многопучкового электронно-лучевого оборудования бел привносимой дефектности, с низкими радиационными нагрузками на обрабатываемый объект при производстве изделий микроэлектроники, компьютерной электронно-лучевой оптики и системотехнических устройств
УДК621.235.015
Многофункциональная система для производства элементов микроэлектроники и компьютерной электронно-лучевой оптики / В.А. Васин [и др.] // Прикладная физика .— 2011 .— №4 .— С. 122-127 .— URL: https://rucont.ru/efd/456389 (дата обращения: 04.05.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Multifunctional system for the production of microelectronic components and computer cathode-ray optics V. A. Vasin, B. N. Vasichev, S. V. Stepanchikov, N. G. Fatjanova Moscow State Institute of Electronics and Mathematics, 3 B. Trekhsvyatitelsky Lane, Moscow, 109028, Russia The advantages and different possibilities of designing and developing multi multibeam electronbeam equipment brought by without defects, with low radiation exposure to the object to be processed in the manufacture of microelectronic devices, and computer cathode-ray optics and system integrators devices. <...> PACS: 07.30.Cy Keywords: miniaturization of electron-beam equipment, multibeam system, multifunctional system, the radiation load, miniature vacuum pump assembly, coordinate table, introduced by defects. <...> Рассмотрены преимущества и различные возможности проектирования и разработки многофункционального многопучкового электронно-лучевого оборудования бел привносимой дефектности, с низкими радиационными нагрузками на обрабатываемый объект при производстве изделий микроэлектроники, компьютерной электронно-лучевой оптики и системотехнических устройств! <...>