Микроэлектроника Специализированные Николай Василенков Алексей Максимов tp@test-expert.ru Сергей Грабчиков, д. ф.-м. н. <...> gss@ifttp.bas-net.by В современных радиоэлектронных системах вопрос обеспечения высоких показателей эксплуатационной надежности приборов и аппаратуры в условиях радиационных воздействий (электронов, протонов, тяжелых заряженных частиц, рентгеновского и гамма-излучения) является весьма актуальным. <...> Проблема повышения их радиационной стойкости решается следующими путями: • технологический (применение специализированных технологических процессов и материалов при изготовлении интегральных микросхем (ИМС) и других компонентов бортовой аппаратуры) [1, 2]; радиационно-защитные корпуса для изделий микроэлектронной техники • конструктивный (специализированные корпуса ИМС — методы локальной защиты) [1–7]; • схемотехнический (методы мажоритирования и др.) <...> ; • методика с помощью моделирования радиационных эффектов (на стадии проектирования ИМС) [1]. <...> При использовании стандартных материалов (алюминий и его сплавы) конструкционной защиты космических аппаратов (КА) уровни радиационных воздействий оказываются все еще достаточно высокими, поэтому для наиболее уязвимых элементов следует использовать локальную защиту. <...> Локальная защита представляет собой дополнительный экран, предназначенный для предохранения только критичных узлов и элементов аппаратуры, не приводит к серьезному увеличению массы или габаритов блоков КА, является одним из наиболее эффективных и экономичных подходов для обеспечения радиационной защиты ИМС. <...> Именно поэтому весьма перспективно направление, связанное с созданием новых типов корпусов с интегрированными в конструкцию корпуса экранами радиационной защиты (ЭРЗ). <...> Использование коммерческих кристаллов ИМС и полупроводниковых приборов в военных и гражданских космических системах стало возможным после того, как экспериментальным путем была показана эффективность <...>