Технологии в электронной промышленности, № 2’2016 ностей тестера с подвижными пробниками гораздо выше, чем у внутрисхемного тестера типа «поле контактов». <...> Отзыв сервисного центра компании Alcatel-Lucent «Количество поступающих к нам на ремонт Рис. <...> Статистика выявленных неисправностей электронных модулей Таблица 3. <...> Сравнительное время тестирования с помощью систем с подвижными пробниками и «поле контактов» Система Тестер с подвижными пробниками Pilot4D V8 Создание тестовой программы Время 26 ч Выполнение тестирования Внутрисхемное тестирование 9 мин Программирование Flash и FPGA через JTAG 9 мин 10 с Создание тестовой программы Около 6 недель Выполнение тестирования Внутрисхемное тестирование 4 мин 30 с Программирование Flash и FPGA через JTAG 3 мин 15 с Внутрисхемный тестер типа «поле контактов» изделий достаточно высокое. <...> Кроме того, электронные модули присылают различные фирмы-производители со всего мира, поэтому зачастую мы просто не располагаем данными САПР для всех образцов. <...> Чтобы произвести ремонт смонтированных модулей, нам необходимо получить эти данные, для чего мы применяем метод обратного проектирования. <...> Раньше мы использовали оборудование, на котором испытания плат проводились вручную: создавалась тестовая программа, электронные модули проверялись, затем проводились ремонтные мероприятия и изделия отправлялись обратно к заказчику без выполнения окончательного функционального тестирования. <...> При таком подходе количество отозванных изделий, отремонтированных вручную в нашем центре или в субподрядных организациях, составляло 30%. <...> После установки тестера Pilot4D V8 количество возвратов снизилось до 10%». <...> Отзыв крупного центра по ремонту оборонной авиатехники во Франции «Наша организация приобрела систему Pilot4D V8 для ремонта специальных изделий, где обратное проектирование используется при создании не только тестовой программы для контроля печатных плат, но и конструкторской документации и клонировании <...>