Технологии в электронной промышленности, № 2’2016 Тестеры Pilot4D V8 для ремонта. <...> Опыт зарубежных специалистов В условиях развития современных технологий и увеличения стоимости тестирования на смену внутрисхемным тестерам типа «поле контактов» пришли устройства с подвижными пробниками, ставшие полезным дополнением и к функциональному тестированию. <...> Игорь Рыков Вадим Кусков info@sovtest.ru единичной продукции, но и при крупносерийном многономенклатурном выпуске изделий, поскольку значительно сократилось время создания тестовых программ и увеличилась производительность таких систем. <...> Лет 10–20 назад вопрос о возможности использоБ вания тестера с подвижными пробниками для ремонта электронных модулей прозвучал бы довольно странно, ведь в то время основной технологией автоматического выявления дефектной продукции являлось функциональное тестирование модулей, проводившееся на специализированных стендах. <...> Однако повышенная сложность электронных модулей и прогрессивное развитие технологий тестирования с помощью подвижных пробников в корне изменили концепцию тестирования. <...> Специалисты современных сервисных центров, занимающиеся ремонтом электроники и имеющие большой опыт использования тестеров с подвижными пробниками, пришли к выводу, что для максимально точной локализации неисправностей смонтированных модулей эти системы должны отолее того, тестеры с подвижными пробниками (рис. <...> Создание тестовой программы при отсутствии исходных данных из САПР. <...> При выполнении функционального тестирования достаточно лишь тестовой программы и принципиальной схемы модуля, однако для тестеров с подвижными пробниками этого мало: необходимы данные из САПР, включая список цепей, перечень компонентов, абсолютные координаты электронного модуля и положение тестируемых компонентов. <...> Для выполнения качественного ремонта сложных электронных модулей недостаточно только внутрисхемного контроля. <...> Следует задействовать <...>