Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634932)
Контекстум
Руконтекст антиплагиат система
Технологии в электронной промышленности  / №4 (88) 2016

Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС-35 (45,00 руб.)

0   0
Первый авторКусков Вадим
АвторыСлепухов Евгений, Горемычкин Роман
Страниц3
ID451216
АннотацияВ последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях
Кусков, В. Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС-35 / В. Кусков, Евгений Слепухов, Роман Горемычкин // Технологии в электронной промышленности .— 2016 .— №4 (88) .— С. 30-32 .— URL: https://rucont.ru/efd/451216 (дата обращения: 29.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Технологии в электронной промышленности, № 4’2016 Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС-35 В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях. <...> Вадим Кусков vkuskov@sovtest.ru Евгений Слепухов eslepuhov@sovtest.ru Роман Горемычкин rgoremychkin@sovtest.ru П ри передаче сигналов на высоких частотах любые нарушения, возникающие в процессе изготовления печатных плат, приводят к изменению волнового сопротивления проводника и, как следствие, к искажению сигнала в месте дефекта. <...> Для контроля волнового сопротивления линий ВЧ-изделий применяют специальные приборы — рефлектометры. <...> Работа данных устройств основана на методе рефлектометрических измерений (TDR). <...> Назначение рефлектометра Рефлектометры позволяют обнаруживать следующие дефекты: • изменения ширины и высоты (утонения/утолщения) участков проводников; • изменение ширины, деформацию покрытий ПП; • изменения диэлектрической проницаемости материалов; • изменения толщины диэлектрика; • ухудшение свойств, вызванное воздействием повышенных температур и влажности; • повреждения, вызванные повышенным давлением во время процесса прессования слоев ПП; • нарушение слоя диэлектрика. <...> Представленные выше дефекты всегда являются следствием нарушений технологического процесса, некорректного подбора используемых материалов или ошибками разработчиков. <...> Режимы работы рефлетометра Учитывая постоянно растущий спрос на тестовое рефлектометрическое оборудование со стороны отечественных промышленных предприятий, специалисты компании «Совтест АТЕ» разработали динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар модель ИРС-35 (рис. <...> Динамический рефлектометр ИРС-35 28 <...>