Периферийное сканирование на различных производственных участках 3. <...> Стоимость тестовой оснастки снижается при уменьшении числа контрольных точек на печатной плате. <...> Сокращение общих расходов на разработку программы внутрисхемного тестирования за счет того, что программа тестирования методом периферийного сканирования уже создана на этапе разработки опытного образца. <...> Периферийное сканирование на этапе серийного производства Программы тестирования методом периферийного сканирования, созданные на этапе разработки опытного образца и дополненные внутрисхемным тестированием на стадии внедрения нового изделия, можно использовать на различных участках в процессе серийного производства (рис. <...> Станция внутрисхемного тестирования — тестирование методом периферийного сканирования по программе, созданной на этапе разработки опытного образца и этапе внедрения нового изделия, можно интегрировать в программу внутрисхемного тестирования. <...> Ремонтная станция внутрисхемного тестирования — ту же программу периферийного сканирования можно использовать для локализации дефектов в процессе ремонта. <...> Станция функционального тестирования — ту же программу периферийного сканирования можно интегрировать с программой функционального тестирования. <...> Ремонтная станция функционального тестирования — ту же программу периферийного сканирования можно применить для локализации дефектов в процессе ремонта. <...> Заключение Применение периферийного сканирования на всех этапах производства и тестирования изделий позволяет не только снизить стоимость тестирования за счет повторного использования контрольно-измерительного оборудования и программного обеспечения, но и увеличить тестовое покрытие. <...> Использование одних и тех же программ периферийного сканирования на испытательных станциях гарантирует высокое качество тестирования на всех станциях. <...> Оператор производственной линии и специалисты могут <...>