Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634558)
Контекстум
.
Прикладная физика  / №6 2014

Кристаллографический анализ гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути (10,00 руб.)

0   0
Первый авторСизов
АвторыМирофянченко А.Е., Ляликов А.В., Яковлева Н.И.
Страниц6
ID432138
АннотацияДля кристаллографического анализа гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути использованы высокоточные методы микроскопии высокого разрешения, рентгеновской дифрактометрии, энергодисперсионного и микрорентгеновского анализа. Определен количественный состав химических компонентов внутри области структурного V-дефекта. Определены значения углов Брэгговского отражения, которые составили 47,1—47,5 градуса, и полуширины кривой качания, которая по измеренным образцам составила 74˝.
УДК621.383.4/5
Кристаллографический анализ гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути / А.Л. Сизов [и др.] // Прикладная физика .— 2014 .— №6 .— С. 70-75 .— URL: https://rucont.ru/efd/432138 (дата обращения: 19.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

70 УДК 621.383.4/5 Кристаллографический анализ гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути А. Л. Сизов, А. Е. Мирофянченко, А. В. Ляликов, Н. И. Яковлева Для кристаллографического анализа гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути использованы высокоточные методы микроскопии высокого разрешения, рентгеновской дифрактометрии, энергодисперсионного и микрорентгеновского анализа. <...> Определены значения углов Брэгговского отражения, которые составили 47,1—47,5 градуса, и полуширины кривой качания, которая по измеренным образцам составила 74˝. <...> Dw Ключевые слова: гетероэпитаксиальная структура, ГЭС, теллурид кадмия-ртути, КРТ, CdHgTe, инфракрасный, микроскопия высокого разрешения, рентгеноструктурный анализ. <...> Введение Необходимость уменьшения дефектов в гетероэпитаксиальных структурах тройного соединения кадмий-ртуть-теллур (КРТ) в процессе выращивания на гомо- и гетероподложках [1, 2], создание радиационно стойких и термостойких матричных фотоприемных устройств на основе ГЭС КРТ второго и третьего поколения [3—5], ужесточение требований к их частотным характеристикам привело к необходимости использования для контроля структурного совершенства ряда высокоточных наукоемких методов контроля, таких как микроскопия высокого разрешения [6] и рентгеновская дифрактометрия (РД) [7]. <...> Данные методы в настоящее время широко используются как в исследовательских целях, так и при решении производственных задач. <...> Как правило, расшифровка кристаллической структуры проводится по рентгенограммам монокристаллов или по картинам дифракционного отражения. <...> E-mail: orion@orion-ir.ru Статья поступила в редакцию 29 сентября 2014 г. © Сизов А. Л., Мирофянченко А. Е., Ляликов А. В., Яковлева Н. И., 2014 На сегодняшний день в России активно используются три основных метода эпитаксии КРТ: жидкофазная эпитаксия (ЖФЭ), молекулярнолучевая эпитаксия (МЛЭ) и мосгидридная эпитаксия (МОСГЭ). <...> Наиболее развитыми методами являются ЖФЭ и МЛЭ <...>

Облако ключевых слов *


* - вычисляется автоматически
.
.