Прикладная физика, 2014, № 6 УДК 621.315.592 Исследование дефектов структуры в кристаллах CdZnTe методами инфракрасной и оптической микроскопии М. Б. Гришечкин, И. А. Денисов, А. А. Силина, Н. А. Смирнова, Н. И. Шматов, А. Г. Яковенко Методом инфракрасной и оптической микроскопии исследованы включения второй фазы и преципитаты микронных размеров в кристаллах CdZnTe. <...> Предложено классифицировать данные типы дефектов по виду границы раздела дефект-матрица, видимую в оптическом микроскопе после селективного травления образцов. <...> Для более точного исследования границы раздела использовался метод растровой электронной микроскопии. <...> Методом энергодисперсионного анализа определен состав исследуемых дефектов. <...> Hk Ключевые слова: CdZnTe, включение второй фазы, преципитат, инфракрасная микроскопия, энергодисперсионный анализ. <...> Статья поступила в редакцию 8 сентября 2014 г. © Гришечкин М. Б., Денисов И. А., Силина А. А., Смирнова Н. А., Шматов Н. И., Яковенко А. Г., 2014 Исследования образцов методом ИК-микроскопии позволяют изучать их внутреннюю структуру благодаря различиям в поглощении ИК-излучения дефектными областями материала и окружающей их матрицей. <...> Целью данной работы являлось исследование включения второй фазы и преципитаты избыточного компонента твердого раствора в CdZnTe. <...> Постановка задачи Анализ литературных данных показал, что не существует единого мнения по вопросу о четком разделении вышеуказанных дефектов между собой, а также условиях и механизмах их образования. <...> Авторы работ [12—14] предложили следующее определение для данных дефектов, основываясь на причинах их образования и размерах: включение второй фазы — это дефект, образующийся во время роста кристалла путем захвата капель расплава из-за нестабильности фронта кристаллизации и имеющий размеры более 1 мкм; а преципитат — это дефект, формирующийся на этапе постростового охлаждения вследствие ретроградного характера растворимости компонентов твердого раствора <...>