Проведено испытание трех пирамидальных инденторов с различными углами при вершине на возможность их использования для получения рельефа поверхности в режиме сканирующей зондовой микроскопии и измерения твердости методом индентирования. <...> Применение инденторов с углом при вершине 20 градусов позволяет получать изображение рельефа поверхности, сравнимое по качеству с традиционными атомно-силовыми микроскопами, а также существенно уменьшить эффект влияния подложки при измерениях механических свойств топких покрытий.! <...>