УДК 621.385.833 МНОГОПРОХОДОВЫЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЗАИМНОГО СМЕЩЕНИЯ ПЕРЕКРЫВАЮЩИХСЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ НАНОЧАСТИЦ ГУЛЯЕВ П.В., ШЕЛКОВНИКОВ Е.Ю., ТЮРИКОВ А.В., КИРИЛЛОВ А.И. <...> Работа посвящена методам выделения особых точек изображения и определения взаимного сдвига двух перекрывающихся изображений. <...> Описан процесс применения базисных функций для перекодирования изображений в представление, определяющее степень схожести фрагмента изображения и базисной функции. <...> Показано, что обработка изображений различными базисными функциями и последующая фильтрация результатов позволяет повысить точность определения взаимного смещения изображений. <...> ВВЕДЕНИЕ Определение параметров (сдвиг, поворот) взаимной ориентации перекрывающихся изображений [1] имеет большое значение для построения и анализа обобщенного (панорамного) изображения поверхности из множества пересекающихся фрагментов. <...> В случае применения зондовой микроскопии для контроля дисперсности [2 – 4] данная задача трансформируется в задачу формирования для последовательно полученных перекрывающихся изображений поверхности единой системы координат, позволяющей корректно установить местоположение каждой частицы и сформировать выборку размеров частиц. <...> Используемые для этого методы, в том числе метод статистической дифференциации изображений, требуют значительного (30 – 40 %) перекрытия фрагментов обобщенного изображения. <...> Это необходимо для поиска на двух изображениях Z0 и Z, отличающихся взаимным сдвигом 0 ∆ и элементами фона, достаточного количества схожих точек it для однозначного определения параметров сдвига 0 ∆ При контроле дисперсности с целью сокращения значительных потерь времени на сканирование одних [5 – 7] и тех же участков поверхности область перекрытия последовательно получаемых изображений следовало бы ограничить участком, в котором располагались бы не более 3 – 5 частиц. <...> Однако это может привести к снижению коэффициента <...>