Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy / ed. J. Chastain, R.C. King. – Physical Electronics, 1995. 27. <...> Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и теории функционала плотности (ТФП) исследовано электронное строение октасилсесквиоксанов (RSiO1,5)8 с винильными и фенильными концевыми группами. <...> Узкие линии спектров, соответствующие ионизации с остовных уровней C1s, указывают на близкие химические состояния атомов углерода для обоих соединений. <...>