МГТУ им. Н.Э. Баумана. Золотая коллекция. 2025.
← назад

Свободный доступ

Ограниченный доступ
Автор: Сагателян Г. Р.
Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана: М.
Приведены современные требования к геометрической точности изготовления пластин-подложек интегральных микросхем. Рассмотрены кремниевые подложки диаметром 150 и 200 мм, а также сапфировые подложки диаметром 100 мм. Описаны новые технологические операции, применяемые при производстве полупроводниковых пластин.
Предпросмотр: Современные требования к кремниевым пластинам.pdf (0,3 Мб)